ΚΙΝΑ thermal test system εργοστάσιο

Αρχική
Περίπου Εμείς.
- Προφίλ εταιρείας
- Ξενάγηση στο Εργοστάσιο
- Ποιοτικός έλεγχος
προϊόντα
- Υποδοχές Δοκιμής IC
- Συνδετήρας δοκιμής
- Συσκευή δοκιμής BGA
- Σημείο δοκιμής ραδιοσυχνοτήτων
- Ελαστομερή πρίζα
- Πύλη PGA
- σύνδεσμος δοκιμής fpc
- Δοκιμαστική πρίζα DIMM
- Προσαρμοστής δοκιμής DDR
- Θερμική αίθουσα δοκιμής
- Κεφαλίδα ενότητας κάμερας
- Αναγνώστης Αποκοπής Μνήμης
- πρίζα δοκιμής μνήμης
Εκδηλώσεις
- Ειδήσεις
- Υποθέσεις
Επικοινωνήστε μαζί μας

Μιλήστε τώρα.

Γρήγορος σύνδεσμος

Αρχική προϊόντα Περίπου Εμείς. Ειδήσεις Υποθέσεις Επικοινωνήστε μαζί μας

Γρήγορη επικοινωνία

Διεύθυνση

Ο όροφος 6, κτίριο 4, 10ο βιομηχανικό πάρκο, GM Tianliao, Guangming New District, Shenzhen, ΛΔΚ

τηλ

86-0755-23036306

E-mail

frank.w@sireda.com

Το Δελτίο Ενημέρωσης

Συνδρομηθείτε στο ενημερωτικό μας δελτίο για εκπτώσεις και πολλά άλλα.

Πολιτική απορρήτου | Sitemap | Κίνα Καλό Ποιότητα Υποδοχές Δοκιμής IC Προμηθευτής. 2025 Sireda Technology Co., Ltd. Όλα. Όλα τα δικαιώματα διατηρούνται.

thermal test system

Υποδοχές Δοκιμής IC

Συνδετήρας δοκιμής

Συσκευή δοκιμής BGA

Σημείο δοκιμής ραδιοσυχνοτήτων

Ελαστομερή πρίζα

Πύλη PGA

σύνδεσμος δοκιμής fpc

Δοκιμαστική πρίζα DIMM

Προσαρμοστής δοκιμής DDR

Θερμική αίθουσα δοκιμής

Κεφαλίδα ενότητας κάμερας

Αναγνώστης Αποκοπής Μνήμης

πρίζα δοκιμής μνήμης

Συμπαγές Θερμικό Σύστημα Δοκιμών Πάγκου -55°C έως 150°C για Γρήγορη Δοκιμή Chip

Υψηλής Απόδοσης ATE IC Δοκιμαστικές Υποδοχές Ακριβείς Λύσεις Για Δοκιμές Μνήμης