تفاصيل المنتجات
المنتجات
اتصل بنا
|
مقبس اختبار DIMM عالي التردد، موصل ذاكرة BeCu مطلي بالذهب
| مو: | 1 |
| السعر: | Get Quote |
معلومات تفصيلية
مكان المنشأ
الصين
اسم العلامة التجارية
Sireda
إصدار الشهادات
ISO9001
رقم الموديل
فتح أعلى
تثبيت:
تمثيل المسمار
نوع الموصل:
دبوس المحطة
إبراز:
مقبس اختبار DIMM عالي التردد,مقبس وحدة ذاكرة مطلي بالذهب,مقبس وحدة ذاكرة عالي التردد
,Memory Module Socket Gold Plated
,High Frequency Memory Module Socket
وصف المنتج
محول اختبار DDR DIMM - حل اختبار وحدة الذاكرة عالية الأداء
الـمحول اختبار DDR DIMMمصممة خصيصاً للاختباروحدات ذاكرة DDR3 و DDR4 و DDR5معمتانة عالية ودقةيحتويقوة إدخال منخفضة (LIF)، حماية الأصابع الذهبية لوحدة الذاكرة من الضرر خلال دورات الاختبار المتكررة.معدات الاختبار الآلية (ATE) ورفات الاختبار، هذا المقبس يضمن أداء موثوق به فيإدخال حرق، اختبار وظيفي، والتحقق من صحة التردد العالي.
الخصائص
| السمة | المواصفات |
|---|---|
| متاحة | DDR3 / DDR4 / DDR5 DIMM (288-pin، 1.2V-1.5V) |
| مدة الحياة | 50،000+ دورات إدراج |
| مواد الاتصال | BeCu (Beryllium Copper) مع طبقة ذهبية 1μm |
| قوة الإدراج | <1.0N لكل دبوس (تصميم قوة إدخال منخفضة) |
| سلامة الإشارة | التحقق من صحة السرعة العالية (DDR5-6400+) مع الحد الأدنى من فقدان الإشارة |
| التصميم | آلية رافعة للضغط المستقر للاتصال |
| دعم الأتمتة | متوافق مع آلات الاختيار والمكان ومصاعد الاختبار |
| نطاق الحرارة | -40 درجة مئوية إلى +125 درجة مئوية |
التطبيقات:
- اختبار الحرق (درجة حرارة عالية تصل إلى125 درجة مئوية)
- التحقق الوظيفي للوحدة الذاكرة
- اختبار إشارة التردد العالي (DDR5-6400+)
- اختبار الإنتاج الآلي
اختبار تلف أصبع الذهب
المنتجات الموصى بها
