Spina di prova USB 2.0 durevole, contatti placcati oro, connettore di prova per oltre 15000 cicli di inserimento

Garantire l'affidabilità a lungo termine e l'integrità precisa del segnale con i nostri tappi di test USB 2.0 placcati in oro. Ingegnerizzati per linee di produzione, convalida QA/QC e test di ricerca e sviluppo, questi connettori ad alte prestazioni offrono oltre 10.000 cicli di inserzione senza degradazione del segnale, perfetto per ambienti di test rigorosi.

704-0000356 USB3.0 A per femmina 45,0 mm 180 °

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Micro USB2.0-II

USB c

USB3.0

HDMI per maschio

 

 

 

HDMI per femmina

• I materiali di alta qualità garantiscono un'eccellente conducibilità, bassa usura e durata estesa.
• I terminali del segnale sono realizzati in rame di berillio per conducibilità e elasticità superiori, con resistenza di contatto inferiore a 50 m Ω.
• Diverse opzioni di contatto, tra cui tipo lama, pin rotondo, terminali lavorati e altro ancora.
• Durabilità di test eccezionali - almeno 15.000 cicli, con alcuni modelli che superano i 30.000 cicli o superiori.
• Ottimizzato per i test automatizzati: i miglioramenti strutturali prevengono danni all'impatto e usura.
• Altamente personalizzabile: le sonde di prova e le strutture di supporto possono essere adattate ai requisiti del cliente.