Do domu
O... My.
- Profil firmy
- Wycieczka po fabryce
- Kontrola jakości
Produkty
- Gniazda testowe IC
- Złącze testowe
- Gniazdo badawcze BGA
- Zakładka badawcza RF
- Elastomer Socket
- Gniazdo PGA
- złącze testowe FPC
- Zakładka badawcza DIMM
- Adapter testowy DDR
- Komora badawcza termiczna
- Gniazdko modułu aparatu
- Czytnik wyłączony
- gniazdo testowe pamięci
Wydarzenia
- Nowości
- Przypadki
Skontaktuj się z nami

zacytować

Komora badawcza termiczna

Do domu > Produkty >

Komora badawcza termiczna

Produkty

Gniazda testowe IC

Złącze testowe

Gniazdo badawcze BGA

Zakładka badawcza RF

Elastomer Socket

Gniazdo PGA

złącze testowe FPC

Zakładka badawcza DIMM

Adapter testowy DDR

Gniazdko modułu aparatu

Czytnik wyłączony

gniazdo testowe pamięci

Skontaktuj się z nami

Mr. Wang

frank.w@sireda.com

86-0755-23036306

Skontaktuj się teraz

Komora badawcza termiczna

Produkty

Gniazda testowe IC

Złącze testowe

Gniazdo badawcze BGA

Zakładka badawcza RF

Elastomer Socket

Gniazdo PGA

złącze testowe FPC

Zakładka badawcza DIMM

Adapter testowy DDR

Gniazdko modułu aparatu

Czytnik wyłączony

gniazdo testowe pamięci

Komora badawcza termiczna

Szybki link

Do domu Produkty O... My. Nowości Przypadki Skontaktuj się z nami

Szybki kontakt

Adres

Płaszczyzna 6, budynek 4, dziesiąty park przemysłowy, GM Tianliao, Guangming New District, Shenzhen, ChRL

teren

86-0755-23036306

E-mail

frank.w@sireda.com

Nasz Newsletter

Zapisz się do naszego biuletynu z rabatami i innymi informacjami.

Polityka prywatności | Mapa strony | Chiny dobre. Jakość Gniazda testowe IC Sprzedawca. 2025-2026 Sireda Technology Co., Ltd. Wszystkie. Prawa zastrzeżone.