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Support de test RF de précision à ouverture supérieure pour la validation de circuits intégrés haute fréquence

Support de test RF de précision à ouverture supérieure pour la validation de circuits intégrés haute fréquence

MOQ: 1
Le Prix: Get Quote
Informations détaillées
Lieu d'origine
CHINE
Nom de marque
Sireda
Certification
ISO9001
Numéro de modèle
Top
Pas:
≥0.3mm
Bande passante:
80g
Comptage des broches:
2-2000 +
Packages compatibles::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Type de socket:
Top
Type de conducteur:
Broches de sonde, broche pogo, PCR
Mettre en évidence:

Support de test RF de précision

,

Support de test RF pour la validation de circuits intégrés

,

Montage de test RF haute fréquence

Description du produit

Sockets de test RF de précision pour la validation des circuits intégrés haute fréquence

Optimisés pour les applications micro-ondes et ondes millimétriques, nos sockets de test RF offrent une intégrité de signal exceptionnelle jusqu'à 80 GHz et plus, avec une perte d'insertion minimale. Dotés de conceptions à adaptation d'impédance et d'un blindage RF haute densité, ces sockets garantissent des tests précis des circuits intégrés 5G, radar et de communication par satellite, en laboratoire comme en production.

 

Support de test RF de précision à ouverture supérieure pour la validation de circuits intégrés haute fréquence 0        Support de test RF de précision à ouverture supérieure pour la validation de circuits intégrés haute fréquence 1

Sockets de test RF de précision avec données de performance vérifiées

Support de test RF de précision à ouverture supérieure pour la validation de circuits intégrés haute fréquence 2