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Équipement de test RF haute performance pour la caractérisation des ondes millimétriques et des circuits intégrés à micro-ondes
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Équipement de test RF haute performance pour la caractérisation des ondes millimétriques et des circuits intégrés à micro-ondes
| MOQ: | 1 |
| Le Prix: | Get Quote |
Informations détaillées
Lieu d'origine
CHINE
Nom de marque
Sireda
Certification
ISO9001
Numéro de modèle
Top
Pas:
≥0.3mm
Bande passante:
80g
Comptage des broches:
2-2000 +
Packages compatibles::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Type de socket:
Top
Type de conducteur:
Broches de sonde, broche pogo, PCR
Mettre en évidence:
Appareil d'essai RF au micro-ondes
,Appareil d'essai RF à haute performance
,Socket d'essai de caractérisation des circuits intégrés
Description du produit
Sockets de test RF haute performance pour la caractérisation des circuits intégrés millimétriques et hyperfréquences
Conçus pour les applications sans fil de nouvelle génération, nos sockets de test RF de précision offrent une transmission de signal à très faible perte jusqu'à 110 GHz, ce qui les rend idéaux pour la validation des circuits intégrés 5G/6G, radar automobile (77/79 GHz) et de communication aérospatiale.
.
Sockets de test RF de précision avec données de performance vérifiées
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