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Stabiler Speicher-Chip-Off-Reader USB-Kartenleser für IC-Test und Datenwiederherstellung
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Stabiler Speicher-Chip-Off-Reader USB-Kartenleser für IC-Test und Datenwiederherstellung
| MOQ: | 1 |
| Preis: | Get Quote |
Detailinformationen
Herkunftsort
CHINA
Markenname
Sireda
Zertifizierung
ISO9001
Modellnummer
Offene Oberseite
Hervorheben:
IC-Test-Speicher-Chip-Off-Leser
,Datenwiederherstellungs-Speicher-Chip-Off-Reader
,IC-Test USB-Kartenleser
Produktbeschreibung
USB-Kartenleser für IC-Tests und Datenwiederherstellung
Produkthinweise:
- Mehrzweck-Chip-Reader- Entwickelt für IC-Tests, Kartenprogrammierung und Datenwiederherstellung.
- Forensik und Reparaturwerkzeug- Unterstützung der forensischen Analyse (Rechtsverfolgung) und Reparatur von Mobiltelefonen.
- Flash-Speicherkompatibilität- Funktioniert mit einer Vielzahl von Speicherchips zur Datenextraktion und -prüfung.
- USB-Verbindung- Plug-and-play-Betrieb mit Standard-PC/Laptop für einen schnellen und einfachen Datenzugriff.
- Stabil und zuverlässig- Sicherstellung eines genauen Datenlesens für sensible Wiederherstellungs- und Verifizierungsaufgaben.
| Teilnummer | Beschreibung | Typ | Brückensteuerung |
|---|---|---|---|
| 702-0001327 | BGA153 0,5 mm eMMC CS100 11,5x13 mm HS400 USB | HS400 | GL3227E |
| 702-0001328 | BGA162 0,5 mm eMCP CS100 11,5x13 mm HS400 USB | HS400 | GL3227E |
| 702-0001329 | BGA221 0,5 mm eMCP CS100 11,5x13 mm HS400 USB | HS400 | GL3227E |
| 702-0001330 | BGA254 0,5 mm eMCP CS100 11,5x13 mm HS400 USB | HS400 | GL3227E |
| 702-0001331 | BGA153 0,5 mm UFS2.1 CS100 11,5x13 mm USB | UFS | SM3350 |
| 702-0001674 | BGA153 0,5 mm UFS2.1 CS100 11,5x13 mm USB | UFS | JMS901 |
Ideal für
- Gerichtsmedizinische Untersuchungen- Wiederherstellen von kritischen Daten für den Einsatz bei der Strafverfolgung.
- Chip-Test und Programmierung- Flash-Speicherinitialisierung und Verifizierung.
- Reparatur von Mobilgeräten- Daten aus beschädigten Speicherchips abrufen.
- Datenwiederherstellungsdienste- Extrahieren und wiederherstellen verlorene Dateien von Speicherkarten und Flash-ICs.
Optimiert fürLeistung, Kompatibilität und professionelle Zuverlässigkeitin Datenwiederherstellungs- und Chip-Test-Arbeitsabläufen.
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