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Hochzuverlässiger DP-Teststecker-Testanschluss für automatisierte DisplayPort-Tests

Hochzuverlässiger DP-Teststecker-Testanschluss für automatisierte DisplayPort-Tests

MOQ: 1
Preis: Get Quote
Detailinformationen
Herkunftsort
CHINA
Markenname
Sireda
Zertifizierung
ISO9001
Modellnummer
Teststecker
Merkmale:
Sehr anpassungsfähig
Typ:
Test-Verbindungsstück
Hervorheben:

Hochzuverlässiger DP-Teststecker

,

Hochzuverlässiger Testanschluss

,

DisplayPort-Testanschlüsse

Produktbeschreibung
DP-Testanschluss (Industrial-Grade-DisplayPort)-automatisierte und No-Cable-Testlösung

Stellen Sie sicher, dass eine makellose Validierungsportalvalidierung für das Displayport-Signal mit unserem Hochleistungs-DP-Teststopfen für automatisierte QA-Tests, Überwachung der Fehlerbehebung und Langlebigkeitsdauerwiedergabe gewährleistet ist. Dieser No-Cable DP-Dummy-Stecker wurde entwickelt, um Kabelabhängigkeiten zu beseitigen, und bietet eine zuverlässige Hot-Plug-Erkennung, EDID-Emulation und Signalintegritätstests mit hoher Bandbreite in Herstellungs- und Reparaturumgebungen.

Hochzuverlässiger DP-Teststecker-Testanschluss für automatisierte DisplayPort-Tests 0

Erkunden Sie unten zusätzliche Testoptionen für Teststecker/Teststopfen oder wenden Sie sich an unsere Spezialisten, um kundenspezifische Lösungen zu erhalten

Hochzuverlässiger DP-Teststecker-Testanschluss für automatisierte DisplayPort-Tests 1
MICRO USB 2.0 Testanschluss
Hochzuverlässiger DP-Teststecker-Testanschluss für automatisierte DisplayPort-Tests 2
USB C -Adapter
Hochzuverlässiger DP-Teststecker-Testanschluss für automatisierte DisplayPort-Tests 3
USB3.0 -Anschluss
Hochzuverlässiger DP-Teststecker-Testanschluss für automatisierte DisplayPort-Tests 4
HDMI für männlich
Port -Testanschluss anzeigen - Anwendungen und Anwendungsfälle
Hochzuverlässiger DP-Teststecker-Testanschluss für automatisierte DisplayPort-Tests 5
Schlüsselmerkmale:
  • Hochwertige Materialien sorgen für eine hervorragende Leitfähigkeit, geringe Verschleiß und eine verlängerte Lebensdauer.
  • Signalanschlüsse bestehen aus Berylliumkupfer für überlegene Leitfähigkeit und Elastizität mit Kontaktwiderstand unter 50 m Ω.
  • Verschiedene Kontaktanschlussoptionen, einschließlich Blade-Typ, Rundstift, bearbeitete Terminals und vieles mehr.
  • Außergewöhnliche Testdauer - mindestens 15.000 Zyklen, wobei einige Modelle 30.000 Zyklen oder höher überschreiten.
  • Optimiert für automatisierte Tests: Strukturverstärkungen verhindern die Beschädigung und Verschleiß von Auswirkungen.
  • Hochpassbar: Testsonden und Supportstrukturen können auf die Kundenanforderungen zugeschnitten werden.