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Zoccolo di prova SODIMM 262 PIN DDR5 di grado industriale per test automatizzati
| Moq: | 1 |
| Prezzo: | Get Quote |
Informazioni Dettagliate
Luogo di origine
Cina
Marca
Sireda
Certificazione
ISO9001
Numero di modello
Open top
Installazione:
Montaggio a vite
Tipo di conduttore:
Pin terminale
Evidenziare:
Zoccolo di prova DDR5 di grado industriale
,Zoccolo di prova DDR5 a 262 PIN
,Zoccolo per test automatizzati
Descrizione del prodotto
SODIMM 262-pin DDR5 Socket di test-Grado industriale per test automatizzati
Aggiorna il tuoTest di memoria DDR5 SODIMMcon il nostropresa di prova a 262 pin di livello industriale, progettato perattrezzatura automatizzataELongevità (oltre 50.000 cicli). A differenza delle prese di consumo più economiche, le nostre caratteristiche del modello di precisione ingegnerizzateContatti a base di oro-tipiper affidabileConnessioni Dimm a papa piccolo. Ideale per i produttori di semiconduttori,Tester Smtrame linee di produzione ad alto volume che richiedonoConvalida ripetuta e coerente. SupportiDDR5-4800 a DDR5-6400+ velocitàcon perdita minima del segnale--Riduci i tempi di inattività e i costi di sostituzione.
Specifiche del prodotto
| P/n | Nome prodotto | Descrizione |
|---|---|---|
| 701-0000487 | SCOPIA DI TEST | DMIM288 0,85 mm DDR4 |
| 701-0000495 | SCOPIA DI TEST | U-Dimm288 0,85 mm DDR5 |
| 701-0000496 | SCOPIA DI TEST | R-Dimm288 0,85 mm DDR5 |
| 701-0000544 | SCOPIA DI TEST | B So-Dimm262 0,5 mm DDR5 |
Caratteristiche
| Caratteristica | Specifiche |
|---|---|
| Disponibile | DDR3 / DDR4 / DDR5 Dimm (288-pin, 1.2V-1,5 V) |
| Durata | Oltre 50.000 cicli di inserzione |
| Materiale di contatto | Beu (rame berillio) con placcatura in oro da 1 µm |
| Forza di inserzione | <1,0 N per pin (design a bassa inserzione) |
| Integrità del segnale | Convalida ad alta velocità (DDR5-6400+) con perdita di segnale minima |
| Progetto | Meccanismo a sbalzo per pressione di contatto stabile |
| Supporto di automazione | Compatibile con macchine da pick-and-place e rack di prova |
| Intervallo di temperatura | -40 ° C a +125 ° C (Burn-in Capacebile) |
Applicazioni:
- Test di burn-in (altissima temperatura fino a 125 ° C)
- Convalida funzionale del modulo di memoria
- Test del segnale ad alta frequenza (DDR5-6400+)
- Test di produzione automatizzati
Test del danno delle dita dell'oro
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