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SODIMM 262 PIN Soquete de ensaio DDR5 de grau industrial para ensaio automatizado
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SODIMM 262 PIN Soquete de ensaio DDR5 de grau industrial para ensaio automatizado
| MOQ: | 1 |
| Preço: | Get Quote |
Informações Detalhadas
Lugar de origem
CHINA
Marca
Sireda
Certificação
ISO9001
Número do modelo
Open Top
Instalação:
Montagem de parafuso
Tipo de condutor:
Pino terminal
Destacar:
Soquete de ensaio DDR5 de qualidade industrial
,Soquete de ensaio DDR5
,Soquete de ensaio automatizado
Descrição do produto
SODIMM 262 PIN DDR5 SOCKET-GRAD INDUSTRIAL PARA TESTE AUTOMATIVO
Atualize o seuTeste de memória DDR5 SODIMMcom o nossosoquete de teste de 262 pinos de grau industrial, projetado paraEquipamento automatizadoeLongevidade (mais de 50.000 ciclos). Ao contrário dos soquetes de consumidores mais baratos, nossos recursos de modelo de engenharia de precisãoContatos de ouro em ouropara confiávelConexões DIMM para pequenos e baixos. Ideal para fabricantes de semicondutores,Testadores smtrame linhas de produção de alto volume que exigemvalidação repetida e consistente. SuportesDdr5-4800 para ddr5-6400+ velocidadescom perda mínima de sinal--Reduza os custos de inatividade e substituição.
Especificações do produto
| P/n | Nome do produto | Descrição |
|---|---|---|
| 701-0000487 | Soquete de teste | DIMM288 0,85mm DDR4 |
| 701-0000495 | Soquete de teste | U-DIMM288 0,85mm DDR5 |
| 701-0000496 | Soquete de teste | R-DIMM288 0,85mm DDR5 |
| 701-0000544 | Soquete de teste | B SO-DIMM262 0,5mm DDR5 |
Características
| Recurso | Especificação |
|---|---|
| Disponível | DDR3 / DDR4 / DDR5 DIMM (288 pinos, 1,2V-1.5V) |
| Vida útil | Mais de 50.000 ciclos de inserção |
| Material de contato | BECU (Beryllium cobre) com revestimento de ouro de 1 µm |
| Força de inserção | <1,0n por pino (design de força de baixa inserção) |
| Integridade do sinal | Validação de alta velocidade (DDR5-6400+) com perda mínima de sinal |
| Projeto | Mecanismo cantilever para pressão de contato estável |
| Suporte de automação | Compatível com máquinas de pick-and-place e racks de teste |
| Faixa de temperatura | -40 ° C a +125 ° C (Burn-in Capable) |
Aplicações:
- Teste de queima (alta temperatura até 125 ° C)
- Validação funcional do módulo de memória
- Teste de sinal de alta frequência (DDR5-6400+)
- Testes de produção automatizados
Teste de dano para os dedos dourados
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