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カスタムBGA-PGAアダプターテストソケットアダプター 信頼性の高い高電流テストソケット
| Moq: | 1 |
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信頼性の高いBGA-PGAアダプター
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PGAテストソケットとは?
A についてPGA (Pin Grid Array) 試験ソケットPGAでパッケージ化されたICを検証,プログラミング,またはバーンインのためのテスト機器に接続する専門的なインターフェースです.パーソナルデザインのPGAソケット複数のチップタイプをサポートします.BGAからPGAとPGAからPGAの構成異なるテストニーズに対応できるようにします.高周波,高電流,低挿入力 (LIF/ZIF),我々は最適なパフォーマンスのために各ソケットを調整します.
BGA to PGA 男性と女性ソケット BGA to PGA テストソケット (女性) PGA ソケット ((男性)
もっと多くの PGA ソケットオプション
標準的なPGA試験ソケットに加えて,我々は,専門的なソリューションを提供しています:
ZIF PGAソケット LIF PGAソケット PGAからPGAソケット
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資産 |
パラメータ |
典型的な価値 |
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メカニカル |
挿入サイクル |
≥100サイクル |
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連絡力 |
15~25g/ピン |
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動作温度 |
商業用 -40 ~ +125 |
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許容性 |
±0.01mm |
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電気 |
接触抵抗 |
<10mΩ |
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流動 |
3A |
なぜ我々のPGAソケットを選んだのか?
私たちのPGAテストソケットは,精度,信頼性,性能のために設計され,ICテストニーズに匹敵しない価値を提供します.
高質 の 材料◎ 高級コンタクトと耐久性のあるハウジングで 耐久性のある使用,高サイクル試験でも使えます
カスタマイズオプション提供可能ZIF,LIF,標準そしてカスタム構成独特のICの足跡に合うように
優れた信号完全性優化された高速・高周波試験信号の損失は最小限です
産業 が 証明 し た 耐久 性厳格にテストされています熱安定性,機械耐久性,一貫した接触抵抗.
迅速な配達とグローバルサポート生産をスケジュール通りに保つために 迅速なプロトタイプ作成と世界規模の物流
目的としてプロトタイプ,燃焼式試験,または大量生産PGAソケットは信頼性があり 繰り返しできる結果停滞時間を短縮し 効率を最大化します
