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China Sireda Technology Co., Ltd.
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Sireda Technology Co., Ltd.
企業概要Sireda Technology Co., Ltdは2010年に設立され,半導体試験ソリューションを提供しています.わたしたち の 主要 な 供え物半導体装置の試験ソケット衰え口燃焼式ソケットRF試験ソケット試験装置試験用コネクタBGA装置のFAサポートリバールサービス主要なマイルストーンと認定2016年にISO9001認証を取得しました2017年には"国家ハイテク企業"の称号を獲得しました2021年に深?? 半導体産業協会から"イノベーション&新作賞"を受賞しました2022年には深?? の"専門的で新しい"企業として栄誉を得ました...
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"夢を共に築き · 未来を創造する"

2026-02-05

.gtr-container-gala-x7y9z2 { font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif; color: #333; line-height: 1.6; padding: 16px; box-sizing: border-box; max-width: 100%; overflow-x: hidden; } .gtr-container-gala-x7y9z2 p { font-size: 14px; margin-bottom: 1em; text-align: left !important; } .gtr-container-gala-x7y9z2 strong { font-weight: bold; } .gtr-container-gala-x7y9z2 .gtr-section-heading { font-size: 18px; font-weight: bold; margin-top: 2em; margin-bottom: 1em; color: #0056b3; /* A subtle industrial blue for headings */ text-align: left !important; } .gtr-container-gala-x7y9z2 .gtr-quote { font-style: italic; margin: 1.5em 0; padding: 1em 1.5em; border-left: 4px solid #007bff; /* Accent border for quotes */ background-color: #f8f9fa; /* Light background for quotes */ color: #555; text-align: left !important; } .gtr-container-gala-x7y9z2 .gtr-quote p { margin-bottom: 0; } .gtr-container-gala-x7y9z2 ul { list-style: none !important; padding-left: 20px !important; margin-bottom: 1em; } .gtr-container-gala-x7y9z2 ul li { position: relative !important; padding-left: 20px !important; margin-bottom: 0.5em !important; font-size: 14px !important; text-align: left !important; list-style: none !important; } .gtr-container-gala-x7y9z2 ul li::before { content: "•" !important; position: absolute !important; left: 0 !important; color: #007bff !important; /* Blue bullet points */ font-size: 1.2em !important; line-height: 1 !important; } .gtr-container-gala-x7y9z2 .gtr-credits { font-size: 12px; color: #777; margin-top: 2em; text-align: right !important; } /* Image handling: No specific layout or dimension styles for images or their parents */ /* Images will render at their intrinsic size or specified width/height attributes */ /* This means images wider than the container will cause horizontal scroll */ @media (min-width: 768px) { .gtr-container-gala-x7y9z2 { padding: 24px 40px; max-width: 960px; /* Constrain content width on larger screens */ margin: 0 auto; /* Center the component */ } .gtr-container-gala-x7y9z2 .gtr-section-heading { font-size: 20px; } .gtr-container-gala-x7y9z2 p { font-size: 15px; } .gtr-container-gala-x7y9z2 ul li { font-size: 15px !important; } } [SIREDA,2026年1月30日] 2026年1月30日,SIREDAのメンバー全員が"夢を共に築き 未来を創り出す"というテーマの年次大会のために [Haoguangming Grand Restaurant]に集まりました.このイベントでは,2025年の卓越した成果を祝い,2026年の新たなマイルストーンを期待しました活動には 年末年賀状 賞式 壮大な公演 ワクワクするラッキー抽選SIREDAのチーム精神と結束を完全に示した熱心な雰囲気を創造しました. レビュー の 年 と 未来 の 見込み グラは,SIREDAのCEO (Frank) の開会スピーチで始まり,SIREDAは2025年の開発の里程碑をまとめ,2026年の戦略的目標を示しました. 2025年には技術革新,市場拡大,顧客サービスにおいて 画期的な進歩を遂げました"イノベーション·双方の利益のための協力"という 企業理念を継続し,より大きな成功を共に目指す!" 優秀者 を 称える 代表的なイベントの一つは,年次従業員・チーム賞式でした.今年の賞は以下の通りでした. "優秀 な 従業員" "最高の新人" "最も優秀な従業員" 25人の従業員が表彰され,彼らの貢献を称えながら熱烈な拍手を受けました. 壮観 な 演技 ギャラでは,ただ評価だけではなく,SIREDAの才能を展示した. オープニングダンス"栄光の日" (部門間協力:技術+生産+調達) 創作詩のレシタル"仕事が大好き" (CNCチーム) 火花展示 (組立チーム) 聴衆 は 笑い と 拍手 に 満ち て 祭り の 雰囲気 に 完全に 浸透 し まし た. ワクワク する 幸運 の 抽選 と 賞金 最も期待されたセグメントは"スーパーラッキー・ドラッグ"でした Huawei Mate80 について 賞金 (¥3000&¥1000) 電気スクーター シャイオミ歯ブラシセット 最終的に優勝したのは [CNC部門のフ・リン]で 大賞を獲得し "最も幸運な労働者"の称号を獲得しました 祝い 乾杯 SIREDA の Frank CEO は 乾杯 を 挙げた. "SIREDA チームメンバー全員の献身に感謝します.来年は共に前進し,新しい課題を受け入れましょう!" 2026 年 を 期待 する "明日はもっといい"という歌声で 締めくくりました SIREDAの結束の文化とチーム精神を象徴していますSIREDAのメンバーは,すべて"イノベーション"の核心的価値観を尊重します.2026年には新たな情熱を持って新しい機会に取り組む! (SIREDAブランド部門の貢献) 写真:SIREDAチーム
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最新の会社ニュース 半導体信頼性試験向け高度HASTテストソケットを発表
半導体信頼性試験向け高度HASTテストソケットを発表

2025-09-15

.gtr-container-xyz789 { font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif; color: #333; line-height: 1.6; padding: 15px; box-sizing: border-box; max-width: 100%; overflow-x: hidden; } .gtr-container-xyz789 p { font-size: 14px; margin-bottom: 1em; text-align: left; color: #444; } .gtr-container-xyz789 strong { font-weight: bold; color: #222; } .gtr-container-xyz789 em { font-style: italic; color: #555; } .gtr-container-xyz789 .gtr-title { font-size: 18px; font-weight: bold; margin-bottom: 1.5em; color: #0056b3; /* A strong blue for industrial feel */ text-align: left; } .gtr-container-xyz789 .gtr-section-heading { font-size: 16px; font-weight: bold; margin-top: 2em; margin-bottom: 1em; color: #0056b3; text-align: left; } .gtr-container-xyz789 ul { list-style: none !important; margin: 0 !important; padding: 0 !important; margin-bottom: 1em !important; } .gtr-container-xyz789 ul li { position: relative; padding-left: 25px; margin-bottom: 0.5em; font-size: 14px; text-align: left; color: #444; } .gtr-container-xyz789 ul li::before { content: "•"; /* Custom bullet point */ position: absolute; left: 0; top: 0; color: #0056b3; /* Blue bullet */ font-size: 1.2em; line-height: inherit; } .gtr-container-xyz789 a { color: #007bff; text-decoration: none; } .gtr-container-xyz789 a:hover { text-decoration: underline; } @media (min-width: 768px) { .gtr-container-xyz789 { padding: 25px; max-width: 800px; /* Constrain width for better readability on large screens */ margin: 0 auto; /* Center the component */ } .gtr-container-xyz789 .gtr-title { font-size: 22px; } .gtr-container-xyz789 .gtr-section-heading { font-size: 18px; } } 半導体の信頼性試験のための高度なHASTテストソケットを開始 半導体試験ソリューションの リーダーとして,今日,新開発されたHAST (高度加速式ストレステスト) ソーケット統合回路の近代的な信頼性試験の要求に応えるように設計されています. 新しいHAST試験ソケットは,極端な環境ストレス条件下で動作するように設計されており,顧客がデバイスの資格と信頼性の検証を加速できるようにしています.テストをサポートします130°C,85% の相対湿度 (RH),そして下圧力環境 (通常は2.3 atm)長期間に渡って96から168時間. この機能により,半導体製造業者や研究機関が製品の耐久性を評価し,高い信頼性のアプリケーションの業界基準の遵守を保証できます.自動車を含む航空宇宙 産業電子機器 "機能が拡大する一方で デバイスのサイズが縮小するにつれて 長期的信頼性を確保することは かつてないほど重要です"[経営者名]は [会社名]で [職種名]を"私たちの HAST 試験ソケットは,厳格なストレストーストテストに必要な安定性,精度,繰り返し性を提供し,製品の完整性を保ちながら,顧客が市場への出荷時間を短縮するのに役立ちます" HAST 試験ソケットの主な利点は以下の通りである. 高温と高湿度耐久性 圧力下での安全で安定した接触性能 試験期間を延長する (96~168時間) 互換性 拡張性のある設計で,様々なパッケージタイプに適応できます. この発売により Sireda は,先端電子機器における信頼性検証の需要を増加させながら,半導体試験ソリューションの革新者としての地位をさらに強化しています. HAST試験ソケットおよび他の半導体試験ソリューションに関する詳細については,www.sireda.comを参照してください.
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最新の会社ニュース 当社の新しい温度/サーマルサイクリングワークステーションでチップテストを革新
当社の新しい温度/サーマルサイクリングワークステーションでチップテストを革新

2025-09-01

.gtr-container-abc987 { font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif; color: #333; line-height: 1.6; max-width: 800px; margin: 0 auto; padding: 20px; box-sizing: border-box; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-main { font-size: 18px; font-weight: bold; margin-bottom: 1em; text-align: left; color: #0056b3; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-section { font-size: 16px; font-weight: bold; margin-top: 1.5em; margin-bottom: 1em; text-align: left; color: #0056b3; border-bottom: 1px solid #eee; padding-bottom: 5px; } .gtr-container-abc987 p { font-size: 14px; margin: 1em 0; text-align: left; word-break: normal; overflow-wrap: normal; } .gtr-container-abc987 strong { font-weight: bold; } .gtr-container-abc987 em { font-style: italic; } .gtr-container-abc987 ul { list-style: none !important; margin: 1em 0 !important; padding: 0 !important; } .gtr-container-abc987 ul li { position: relative; padding-left: 25px; margin-bottom: 0.5em; font-size: 14px; text-align: left; } .gtr-container-abc987 ul.gtr-list-checkmark li::before { content: '✓'; position: absolute; left: 0; top: 0; color: #28a745; font-weight: bold; font-size: 16px; line-height: 1.6; } .gtr-container-abc987 ul:not(.gtr-list-checkmark) li::before { content: '•'; position: absolute; left: 0; top: 0; color: #0056b3; font-weight: bold; font-size: 16px; line-height: 1.6; } .gtr-container-abc987 img { max-width: 100%; height: auto; display: block; margin: 1em auto; } @media (min-width: 768px) { .gtr-container-abc987 { padding: 30px; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-main { font-size: 22px; margin-bottom: 1.5em; } .gtr-container-abc987 .gtr-title-section { font-size: 18px; margin-top: 2em; margin-bottom: 1.2em; } } 新しい温度/熱サイクルワークステーションでチップテストに革命を起こす 半導体開発チームへ 次世代のテストソリューション温度/熱循環作業ステーション│ │コンパクトで高速な環境室の代替効率的なチップ検証のために特別に設計されています なぜ ゆっくり し て 効果 が ない 検査 に 満足 する べき です か 伝統的な熱室は 実験を強いられています全 PCB産業用温度帯 (−55°C~150°C) で,非重要な部品の冷却/加熱に時間とエネルギーを無駄にします.ターメロサイクリング作業ステーション極端な温度を適用することでゲームを変える試験中のチップ (DUT) にのみ費用を削減しながら研究開発を加速する. 標準 室 に 対し て の 主要 な 利点 精密 な 熱 ストレス 運営する-55°Cから+150°C条件はDUTのみで PCB全体ではありません コネクタ,パシブ,サポート回路の不要な熱循環を排除します 熱帯 熱帯 熱帯 熱帯 常用室よりも3倍5倍速く(アクティブガス熱伝達は迅速な安定を確保します) 氷が積もらない乾燥空気技術により凝縮が防止され,継続的な試験が可能になります. 空間 節約 実験室 対応 標準的な机に収まる専用の部屋は必要ありません チップレベルの資格を 要求に応じた即座の設定です だれ が 益 を 得る の です か IC デザイナー:完全なPCB熱安定を待たずに信頼性を確認する. 検証チーム:ストレステストは 数日ではなく 数時間で スタートアップとアカデミー:産業用部屋の安価でベンチトップサイズな代替品 テクニカル ハイライト: 温度範囲: -55°Cから+150°C ランプ速率: ±30°C/分(調節可能) コントロール:PCでプログラムできる,LabVIEW/API 足跡: 30cm×25cm(狭い研究室に収まる) 今日 開発 時間 と 費用 を 削減 する 環境テストに 時間とエネルギーを無駄にしないでくださいチップに集中する 部屋ではなく
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約最も最近の会社の例 メモリモジュール燃焼のための高温室
メモリモジュール燃焼のための高温室

2025-09-15

.gtr-container-x7y2z9 { font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif; color: #333; line-height: 1.6; padding: 15px; max-width: 100%; box-sizing: border-box; border: none; } .gtr-container-x7y2z9 .gtr-section-title { font-size: 18px; font-weight: bold; color: #0056b3; margin-top: 25px; margin-bottom: 15px; text-align: left; } .gtr-container-x7y2z9 p { font-size: 14px; margin-bottom: 15px; text-align: left !important; word-break: normal; overflow-wrap: normal; } .gtr-container-x7y2z9 strong { color: #0056b3; } .gtr-container-x7y2z9 ul { list-style: none !important; margin: 0 !important; padding: 0 !important; margin-bottom: 15px; } .gtr-container-x7y2z9 ul li { position: relative; padding-left: 25px; margin-bottom: 10px; font-size: 14px; text-align: left; } .gtr-container-x7y2z9 ul li::before { content: "•"; position: absolute; left: 0; top: 0; color: #0056b3; font-size: 16px; line-height: 1.6; } @media (min-width: 768px) { .gtr-container-x7y2z9 { padding: 25px 50px; max-width: 960px; margin: 0 auto; } .gtr-container-x7y2z9 .gtr-section-title { font-size: 20px; margin-top: 35px; margin-bottom: 20px; } .gtr-container-x7y2z9 p { margin-bottom: 20px; } .gtr-container-x7y2z9 ul li { margin-bottom: 12px; } } メモリモジュールはサーバー,データセンター,産業システムに広く使用されているため,高温条件下で長期的に信頼性を確保することが重要です.従来 の フル カメラ オーブン は 費用 が かかる こと が あり ますこの課題に対処するために,SIREDAは,オーダーメイドの高温室 (熱ハッド) 特にメモリモジュールのローカルなバーンインテストのために設計されている. 顧客は次の解決策を必要としていた. 提供する局所的な高温環境燃焼中のメモリモジュールについて 温度範囲内で動作する室温 85°C. やってみろ遠隔制御と自動制御ホストPCソフトウェアで 送る安定し均等な熱条件周囲の部品に影響を与えずに シレダは高温室 (熱キャップ)メモリモジュールの領域を直接包み込み 制御されたマイクロ環境を作り 燃焼テストを行うのです精密な温度レベルを維持するために精密な加熱要素とセンサーを統合. このシステムはホストPCソフトウェアと完全に統合されており,オペレーターは温度プロファイルをプログラムし,テストサイクルを自動化し,テストデータをリアルタイムで監視することができます.燃焼プロセスにおける一貫性と効率の両方を保証します. 結果 と 益 制御された試験環境:85°Cまで 安定して繰り返す温度条件 ローカルヒート:フルサイズのオーブンと比較してエネルギー消費量が減る. 自動化ホストPCの制御により,無監視で動作し,より高いスループットが可能になります. 信頼性の改善試験:初期障害を特定し,製品の耐久性を検証する能力が向上します. 結論 [会社名]は高温室の開発を通じて,コスト効率の良い効率的なツールを提供しました.メモリモジュールのバーンインと信頼性試験この事件は,私たちの能力を強調します.個別化され,アプリケーション特有の試験ソリューション顧客が製品品質の目標を達成するのを支援します
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