produkty
memory ic tester
Do domu >

memory ic tester

produkty

Gniazda testowe IC

Złącze testowe

Gniazdo badawcze BGA

Zakładka badawcza RF

Elastomer Socket

Gniazdo PGA

złącze testowe FPC

Zakładka badawcza DIMM

Adapter testowy DDR

Komora badawcza termiczna

Gniazdko modułu aparatu

Czytnik wyłączony

gniazdo testowe pamięci
Skontaktuj się z nami
Mr. Wang
frank.w@sireda.com
86-0755-23036306
Skontaktuj się teraz
Keywords 「memory ic tester」 match  9  produkty
kupować Kompaktowy adapter testowy DDR5 X8 Tester pamięci IC z wykorzystaniem płyt głównych dla konsumentów online manufacture

Kompaktowy adapter testowy DDR5 X8 Tester pamięci IC z wykorzystaniem płyt głównych dla konsumentów

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Lekki DDR3 X8 Test Adapter Tester chip pamięci dla legacy IC online manufacture

Lekki DDR3 X8 Test Adapter Tester chip pamięci dla legacy IC

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Adapter testowy DDR4 X8 - niskobudżetowe rozwiązanie do szybkiej walidacji układów scalonych online manufacture

Adapter testowy DDR4 X8 - niskobudżetowe rozwiązanie do szybkiej walidacji układów scalonych

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Precyzyjny adapter testowy DDR4 X16 dla profesjonalnych testerów pamięci. Wysoka wydajność online manufacture

Precyzyjny adapter testowy DDR4 X16 dla profesjonalnych testerów pamięci. Wysoka wydajność

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Przenośny adapter testowy DDR5 X16 do testowania pamięci RAM dla szybkich układów scalonych online manufacture

Przenośny adapter testowy DDR5 X16 do testowania pamięci RAM dla szybkich układów scalonych

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować LPDDR4 Tester pamięci BGA200 IC Socket Test dla IQC i produkcji online manufacture

LPDDR4 Tester pamięci BGA200 IC Socket Test dla IQC i produkcji

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Wysokowydajne gniazda testowe ATE IC Precyzyjne rozwiązania do testowania pamięci online manufacture

Wysokowydajne gniazda testowe ATE IC Precyzyjne rozwiązania do testowania pamięci

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Wiele gniazd DUT do jednoczesnego testowania układów scalonych dla szybszej przepustowości i wyższej wydajności online manufacture

Wiele gniazd DUT do jednoczesnego testowania układów scalonych dla szybszej przepustowości i wyższej wydajności

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Gniazda testowe ATE IC o wysokiej cykliczności, długotrwała wydajność dla wymagających testów produkcyjnych online manufacture

Gniazda testowe ATE IC o wysokiej cykliczności, długotrwała wydajność dla wymagających testów produkcyjnych

Uzyskaj najlepszą cenę
1
1
produkty
search results
produkty

Gniazda testowe IC

Złącze testowe

Gniazdo badawcze BGA

Zakładka badawcza RF

Elastomer Socket

Gniazdo PGA

złącze testowe FPC

Zakładka badawcza DIMM

Adapter testowy DDR

Komora badawcza termiczna

Gniazdko modułu aparatu

Czytnik wyłączony

gniazdo testowe pamięci
The search yielded  9  results
kupować Kompaktowy adapter testowy DDR5 X8 Tester pamięci IC z wykorzystaniem płyt głównych dla konsumentów online manufacture

Kompaktowy adapter testowy DDR5 X8 Tester pamięci IC z wykorzystaniem płyt głównych dla konsumentów

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Lekki DDR3 X8 Test Adapter Tester chip pamięci dla legacy IC online manufacture

Lekki DDR3 X8 Test Adapter Tester chip pamięci dla legacy IC

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Adapter testowy DDR4 X8 - niskobudżetowe rozwiązanie do szybkiej walidacji układów scalonych online manufacture

Adapter testowy DDR4 X8 - niskobudżetowe rozwiązanie do szybkiej walidacji układów scalonych

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Precyzyjny adapter testowy DDR4 X16 dla profesjonalnych testerów pamięci. Wysoka wydajność online manufacture

Precyzyjny adapter testowy DDR4 X16 dla profesjonalnych testerów pamięci. Wysoka wydajność

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Przenośny adapter testowy DDR5 X16 do testowania pamięci RAM dla szybkich układów scalonych online manufacture

Przenośny adapter testowy DDR5 X16 do testowania pamięci RAM dla szybkich układów scalonych

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować LPDDR4 Tester pamięci BGA200 IC Socket Test dla IQC i produkcji online manufacture

LPDDR4 Tester pamięci BGA200 IC Socket Test dla IQC i produkcji

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Wysokowydajne gniazda testowe ATE IC Precyzyjne rozwiązania do testowania pamięci online manufacture

Wysokowydajne gniazda testowe ATE IC Precyzyjne rozwiązania do testowania pamięci

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Wiele gniazd DUT do jednoczesnego testowania układów scalonych dla szybszej przepustowości i wyższej wydajności online manufacture

Wiele gniazd DUT do jednoczesnego testowania układów scalonych dla szybszej przepustowości i wyższej wydajności

Uzyskaj najlepszą cenę
kupować Gniazda testowe ATE IC o wysokiej cykliczności, długotrwała wydajność dla wymagających testów produkcyjnych online manufacture

Gniazda testowe ATE IC o wysokiej cykliczności, długotrwała wydajność dla wymagających testów produkcyjnych

Uzyskaj najlepszą cenę
1
Szybki link
Do domu produkty O... My. Nowości Przypadki Skontaktuj się z nami
Szybki kontakt

Adres

Płaszczyzna 6, budynek 4, dziesiąty park przemysłowy, GM Tianliao, Guangming New District, Shenzhen, ChRL

teren

86-0755-23036306

Nasz Newsletter
Zapisz się do naszego biuletynu z rabatami i innymi informacjami.
Polityka prywatności |  Sitemap  | Chiny dobre. Jakość Gniazda testowe IC Sprzedawca. 2025 Sireda Technology Co., Ltd. Wszystkie. Prawa zastrzeżone.