|
Kompaktowy adapter testowy DDR5 X8 Tester pamięci IC z wykorzystaniem płyt głównych dla konsumentów
| MOQ: | 1 |
| Ceny: | Get Quote |
DDR5 Tester pamięci IC
,Adapter testowy DDR5 X8
,Kompaktowy Tester pamięci IC
NaszAdapter testowy DDR5 x8zapewniaopłacalnySposób testowania IC pamięci DDR5 bez inwestowania w drogie dedykowane urządzenia testowe. Zaprojektowany do pracyStandardowe płyty główne PCIMemTest86/Pro, ten adapter umożliwia szybkieWalidacja układów, wykrywanie błędów i testowanie wydajnościw konfiguracji przyjaznej dla budżetu. Niezależnie od tego, czy jesteś inżynierem, specjalistą od naprawy technologii, czy producentem, to rozwiązanie pomagaZaoszczędź koszty przy jednoczesnym utrzymaniu wiarygodnych badań przesiewowychW przypadku wadliwych lub gorszych układów DDR5.
Kluczowe funkcje:
Testy przyjazne dla budżetu -Eliminuje potrzebę prognozowania prośbowych przy użyciu standarduKonsumenckie płyty główne PC.
Szybka i łatwa walidacja - Po prostu podłącz adapter i uruchomMemTest86/Prodla szybkich i dokładnych testów IC DDR5.
Kompaktowy i przenośny- -Lekkie i łatwe do zintegrowania z istniejącymi ławkami testowymi lub stacji naprawczych.
Kompatybilny z DDR5 x8 ICS - zoptymalizowane pod kątem8-bitowe układy pamięci, dopasowanie najczęstszych wymagań testowych DDR5.
Brak skomplikowanej konfiguracji-Konstrukcja plug-and-play zmniejsza przestoje i przyspiesza rozwiązywanie problemów.
| P/N. | Nazwa produktu | Opis |
|---|---|---|
| 703-0001770 | Adapter testowy | BGA82 0,8 mm DDR5x8 PCR 8EA KO-10310 |
| 703-0001815 | Adapter testowy | BGA106 0,8 mm DDR5x16 PCR 4EA |
| 703-0000800 | Adapter testowy | BGA96 0,8 mm DDR3x16 PCR TN 4EA |
| 703-0000799 | Adapter testowy | BGA78 0,8 mm DDR3x8 PCR TN 8EA |
| 703-0000823 | Adapter testowy | BGA96 0,8 mm DDR4X16 PCR TN 4EA |
| 703-0001156 | Adapter testowy | BGA96 0,8 mm DDR4X16 KO8598A JI PCR 4EA |
| 703-0000822 | Adapter testowy | BGA78 0,8 mm DDR4X8 PCR TN 8EA |
| 703-0001334 | Adapter testowy | BGA78 0,8 mm DDR4X8 JI PCR 8EA KO-10081 |
- Laboratoria badawczo -rozwojowe- Sprawdź wydajność IC pamięci we wczesnych etapach rozwoju.
- Testy produkcyjne-Niezawodne wypalanie i walidacja IC do produkcji o dużej objętości.
- Naprawa i diagnostyka- Szybko przetestuj wadliwe moduły pamięci za pomocą narzędzi opartych na komputerze.
Zoptymalizowane pod kątemniezawodność, szybkość i opłacalnośćW pamięci testowania przepływów pracy.
