Do domu
O... My.
- Profil firmy
- Wycieczka po fabryce
- Kontrola jakości
Produkty
- Gniazda testowe IC
- Złącze testowe
- Gniazdo badawcze BGA
- Zakładka badawcza RF
- Elastomer Socket
- Gniazdo PGA
- złącze testowe FPC
- Zakładka badawcza DIMM
- Adapter testowy DDR
- Komora badawcza termiczna
- Gniazdko modułu aparatu
- Czytnik wyłączony
- gniazdo testowe pamięci
Wydarzenia
- Nowości
- Przypadki
Skontaktuj się z nami

zacytować

testing socket

Do domu >

testing socket

Produkty

Gniazda testowe IC

Złącze testowe

Gniazdo badawcze BGA

Zakładka badawcza RF

Elastomer Socket

Gniazdo PGA

złącze testowe FPC

Zakładka badawcza DIMM

Adapter testowy DDR

Gniazdko modułu aparatu

Czytnik wyłączony

gniazdo testowe pamięci

Skontaktuj się z nami

Mr. Wang

frank.w@sireda.com

86-0755-23036306

Skontaktuj się teraz

Słowa kluczowe 「testing socket」 dopasowanie 45 Produkty

Konfigurowalne gniazdo testowe IC w wielu stylach dla pakietów BGA/QFN/SOP

Uzyskaj najlepszą cenę

Dostosowanie BGA do PGA Adaptora Soket testowy Adaptora Niezawodny Soket testowy wysokiego prądu

Uzyskaj najlepszą cenę

Gniazda testowe IC do programowania z otwartym górnym dostępem, wysoka temperatura, do testowania półprzewodników

Uzyskaj najlepszą cenę

Precyzyjne gniazda testowe układów scalonych dla półprzewodników - rozwiązania testowania układów o wysokiej dokładności

Uzyskaj najlepszą cenę

Sprężynowe sondy i gniazda testowe Pogo Pin IC programowalne do precyzyjnej weryfikacji

Uzyskaj najlepszą cenę

ISO9001 Niestandardowe gniazdo testowe Dostosowane rozwiązania testowe układów scalonych dla precyzyjnych wymagań

Uzyskaj najlepszą cenę

Wysokowydajne gniazda testowe ATE IC Precyzyjne rozwiązania do testowania pamięci

Uzyskaj najlepszą cenę

ATE Engineering Validation IC Test Sockets Accurate For Pre-Production Testing (Walidacja technologiczna w zakresie testów IC dokładne do badań przedprodukcyjnych)

Uzyskaj najlepszą cenę

Gniazda testowe ATE IC o wysokiej cykliczności, długotrwała wydajność dla wymagających testów produkcyjnych

Uzyskaj najlepszą cenę

Wiele gniazd DUT do jednoczesnego testowania układów scalonych dla szybszej przepustowości i wyższej wydajności

Uzyskaj najlepszą cenę

Niestandardowe gniazdo testowe R-DIMM 288 PIN DDR5, gniazdo testowe pamięci przemysłowej i serwerowej

Uzyskaj najlepszą cenę

Niezniszczający gniazdo testowe BGA 25 GHz Gniazdo testowe dużej prędkości Quick Swap

Uzyskaj najlepszą cenę

1 2 3 4 5

wyniki wyszukiwania

Produkty

Gniazda testowe IC

Złącze testowe

Gniazdo badawcze BGA

Zakładka badawcza RF

Elastomer Socket

Gniazdo PGA

złącze testowe FPC

Zakładka badawcza DIMM

Adapter testowy DDR

Gniazdko modułu aparatu

Czytnik wyłączony

gniazdo testowe pamięci

Poszukiwania przyniosły 45 wyniki

Konfigurowalne gniazdo testowe IC w wielu stylach dla pakietów BGA/QFN/SOP

Uzyskaj najlepszą cenę

Dostosowanie BGA do PGA Adaptora Soket testowy Adaptora Niezawodny Soket testowy wysokiego prądu

Uzyskaj najlepszą cenę

Gniazda testowe IC do programowania z otwartym górnym dostępem, wysoka temperatura, do testowania półprzewodników

Uzyskaj najlepszą cenę

Precyzyjne gniazda testowe układów scalonych dla półprzewodników - rozwiązania testowania układów o wysokiej dokładności

Uzyskaj najlepszą cenę

Sprężynowe sondy i gniazda testowe Pogo Pin IC programowalne do precyzyjnej weryfikacji

Uzyskaj najlepszą cenę

ISO9001 Niestandardowe gniazdo testowe Dostosowane rozwiązania testowe układów scalonych dla precyzyjnych wymagań

Uzyskaj najlepszą cenę

Wysokowydajne gniazda testowe ATE IC Precyzyjne rozwiązania do testowania pamięci

Uzyskaj najlepszą cenę

ATE Engineering Validation IC Test Sockets Accurate For Pre-Production Testing (Walidacja technologiczna w zakresie testów IC dokładne do badań przedprodukcyjnych)

Uzyskaj najlepszą cenę

Gniazda testowe ATE IC o wysokiej cykliczności, długotrwała wydajność dla wymagających testów produkcyjnych

Uzyskaj najlepszą cenę

Wiele gniazd DUT do jednoczesnego testowania układów scalonych dla szybszej przepustowości i wyższej wydajności

Uzyskaj najlepszą cenę

Niestandardowe gniazdo testowe R-DIMM 288 PIN DDR5, gniazdo testowe pamięci przemysłowej i serwerowej

Uzyskaj najlepszą cenę

Niezniszczający gniazdo testowe BGA 25 GHz Gniazdo testowe dużej prędkości Quick Swap

Uzyskaj najlepszą cenę

1 2 3 4

Szybki link

Do domu Produkty O... My. Nowości Przypadki Skontaktuj się z nami

Szybki kontakt

Adres

Płaszczyzna 6, budynek 4, dziesiąty park przemysłowy, GM Tianliao, Guangming New District, Shenzhen, ChRL

teren

86-0755-23036306

E-mail

frank.w@sireda.com

Nasz Newsletter

Zapisz się do naszego biuletynu z rabatami i innymi informacjami.

Polityka prywatności | Mapa strony | Chiny dobre. Jakość Gniazda testowe IC Sprzedawca. 2025-2026 Sireda Technology Co., Ltd. Wszystkie. Prawa zastrzeżone.