|
ATE Engineering Validation IC Test Sockets Accurate For Pre-Production Testing (Walidacja technologiczna w zakresie testów IC dokładne do badań przedprodukcyjnych)
| MOQ: | 1 |
| Ceny: | Get Quote |
Układy testowe układu integracyjnego weryfikacji inżynierii
,Dokładne gniazda do badań IC
,Badania przedprodukcyjne gniazda IC
NaszZjadłem gniazda walidacji inżynieriiIZjadłem gniazda kontaktowesą zaprojektowaneICS o wysokiej liczbie pin, dostarczanie ultra precyzyjnej integralności sygnału wZautomatyzowane środowiska testowe (Ate). Zaprojektowany doWalidacja przedprodukcyjna, testy o dużej objętości i weryfikacja wydajności, te trwałe gniazda zapewniająNiska siła wstawiania, wysoka żywotność cyklu i minimalna utrata sygnału-krytyczny dlaZaawansowane półprzewodniki, motoryzacyjne ICS i szybkie procesory.
- Skalowalne dla ponad 500 pinów- Obsługuje złożone układy scalone z gęstymi układami
- Solidna technologia kontaktowa- sprężyny ze złotymi/pinami dla50 000 cykli
- Niska indukcyjność (<1Nh) i dopasowane impedancje- Niezbędne do testowania prędkości GHZ
- Projekt przyjazny automatyzacji- Kompatybilny z przewodnikami/postawami (standard JEDEC)
- Doskonała trwałość- Zbudowany do testów o wysokim cyklu z solidnymi materiałami, które wytrzymują tysiące wstawek
- Szeroka kompatybilność- Obsługuje pakiety BGA, QFN, SOP i inne
- Technologia kontaktowa precyzyjna- sondy sprężynowe o niskiej oporności lub piny POGO dla niezawodnych połączeń elektrycznych
- Konfiguracje niestandardowe- Dostosowane oprawy testowe dla unikalnych projektów IC i wymagań testowych
- Opcje termiczne i wysokiej częstotliwości-Specjalistyczne gniazda do testowania oparzenia, wysokiego tempa i RF
Aby uzyskać więcej opcji lub niestandardowe żądania, zobacz poniższe szczegóły lub skontaktuj się z naszymi inżynierami.
| Nieruchomość | Parametr | Typowa wartość |
|---|---|---|
| Mechaniczny | Cykle wstawiania | ≥30K-50K cykli |
| Siła kontaktowa | 20-30 g/pin | |
| Temperatura robocza | Komercyjny -40 ~ +125 Wojsko -55 ~ +130 |
|
| Tolerancja | ± 0,01 mm | |
| Elektryczny | Odporność na kontakt | <50mΩ |
| Impedancja | 50 Ω (± 5%) | |
| Aktualny | 1,5a ~ 3a |
Rozwiązania gniazda testowego IC - precyzyjne testy dla wymagających aplikacji
Niezależnie od tego, czy walidacie prototypy, programowanie układów scalonych, czy prowadzisz testy produkcyjne o dużej objętości, nasze niestandardowe gniazda testowe zapewniają dokładność i powtarzalność. Nasze gniazda zaprojektowane w trudnych środowiskach mają solidne projekty mechaniczne, aby zapobiec wypaczeniu pod naprężeniem termicznym przy jednoczesnym zachowaniu stabilnej odporności kontaktowej. Kompatybilne z zautomatyzowanymi pracownikami obsługi i testerami, usprawniają proces sprawdzania poprawności podczas spożywania przestojów.
