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Compatto DDR5 X8 Test Adapter Memoria IC Tester utilizzando schede madri di consumo
| Moq: | 1 |
| Prezzo: | Get Quote |
DDR5 Memory IC Tester
,Adattatore di prova DDR5 X8
,Tester IC per memoria compatta
Il nostroAdattatore di prova DDR5 X8fornisce uncosto-efficaciaLa tecnologia è stata progettata per funzionare con sistemi di controllo di memoria DDR5.schede madri PC standard- eMemTest86/Pro, questo adattatore consente velocementeconvalida del chip, rilevamento dei guasti e test delle prestazioniChe tu sia un ingegnere, uno specialista di riparazione tecnica o un produttore, questa soluzione aiuta arisparmiare sui costi mantenendo un controllo affidabileper i chip DDR5 difettosi o con prestazioni inferiori.
Caratteristiche chiave:
Test a basso costo ¢ elimina la necessità di testatori di memoria costosi utilizzando standardschede madri per PC di consumo.
Validazione rapida e semplice ¢ Basta collegare l'adattatore e eseguireMemTest86/Proper test di circuiti integrati DDR5 rapidi e precisi.
Compatto e portatile️Leggera e facile da integrare nei banchi di prova o nelle stazioni di riparazione esistenti.
Compatibile con circuiti integrati DDR5 X8 ¢ Ottimizzato perchip di memoria a 8 bit, che soddisfano i più comuni requisiti di prova DDR5.
Non è necessaria una configurazione complessaIl progetto plug-and-play riduce i tempi di inattività e accelera la risoluzione dei problemi.
| P/N | Nome del prodotto | Descrizione |
|---|---|---|
| 703-0001770 | Adattatore di prova | BGA82 0,8 mm DDR5x8 PCR 8ea KO-10310 |
| 703-0001815 | Adattatore di prova | BGA106 0,8 mm DDR5x16 PCR 4ea |
| 703-0000800 | Adattatore di prova | BGA96 0,8 mm DDR3x16 PCR TN 4ea |
| 703-0000799 | Adattatore di prova | BGA78 0,8 mm DDR3x8 PCR TN 8ea |
| 703-0000823 | Adattatore di prova | BGA96 0,8 mm DDR4x16 PCR TN 4ea |
| 703-0001156 | Adattatore di prova | BGA96 0,8 mm DDR4x16 KO8598A JI PCR 4ea |
| 703-0000822 | Adattatore di prova | BGA78 0,8 mm DDR4x8 PCR TN 8ea |
| 703-0001334 | Adattatore di prova | BGA78 0,8 mm DDR4x8 JI PCR 8ea KO-10081 |
- Laboratori di ricerca e sviluppo- Valida le prestazioni del circuito integrato di memoria nelle prime fasi di sviluppo.
- Test di produzione- convalida affidabile del burn-in e del circuito integrato per la produzione a grandi volumi.
- Riparazione e diagnostica- Prova rapidamente i moduli di memoria difettosi con strumenti basati su PC.
Ottimizzato peraffidabilità, velocità ed efficienza dei costiin processi di test di memoria.
