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Soquete de teste U-DIMM 288-PIN DDR5 para validação automatizada de DIMM de alto ciclo
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Soquete de teste U-DIMM 288-PIN DDR5 para validação automatizada de DIMM de alto ciclo
| MOQ: | 1 |
| Preço: | Get Quote |
Informações Detalhadas
Lugar de origem
CHINA
Marca
Sireda
Certificação
ISO9001
Número do modelo
Open Top
Instalação:
Montagem de parafuso
Tipo de condutor:
Pino terminal
Destacar:
Soquete de teste DDR5 de 288-PIN
,Soquete de teste U-DIMM DDR5
,Soquete de teste de memória de alto ciclo
Descrição do produto
Soquete de teste de 288 pinos de 288 pinos-validação automática de DIMM de alto ciclo
Maximizar o tempo de atividade emDDR5 U-DIMM Produção e testecom o nossoTeste de 288 pinos ultra-duráveis, classificado paraMais de 50.000 ciclos. Projetado paraSistemas de pick-and-placar automatizadoseTestadores smtram, isso écontatos de alta precisãoacomodarPequenos dedos dourados sem danos. Perfeito paraOEMs, fabricantes de módulos de memória e laboratórios de QC, ele garanteprecisão repetívelnoDdr5-4800 para ddr5-6400 velocidades.Chega de soquetes plásticos quebradiços-a caixa de metal de nível industrial resiste à deformaçãoSob uso contínuo.
Lista de produtos
| P/n | Nome do produto | Descrição |
|---|---|---|
| 701-0000487 | Soquete de teste | DIMM288 0,85mm DDR4 |
| 701-0000495 | Soquete de teste | U-DIMM288 0,85mm DDR5 |
| 701-0000496 | Soquete de teste | R-DIMM288 0,85mm DDR5 |
| 701-0000544 | Soquete de teste | B SO-DIMM262 0,5mm DDR5 |
Características
| Recurso | Especificação |
|---|---|
| Disponível | DDR3 / DDR4 / DDR5 DIMM (288 pinos, 1,2V-1.5V) |
| Vida útil | Mais de 50.000 ciclos de inserção |
| Material de contato | BECU (Beryllium cobre) com revestimento de ouro de 1 µm |
| Força de inserção | <1,0n por pino (design de força de baixa inserção) |
| Integridade do sinal | Validação de alta velocidade (DDR5-6400+) com perda mínima de sinal |
| Projeto | Mecanismo cantilever para pressão de contato estável |
| Suporte de automação | Compatível com máquinas de pick-and-place e racks de teste |
| Faixa de temperatura | -40 ° C a +125 ° C (Burn-in Capable) |
Aplicações:
- Teste de queima (alta temperatura até 125 ° C)
- Validação funcional do módulo de memória
- Teste de sinal de alta frequência (DDR5-6400+)
- Testes de produção automatizados
Teste de dano para os dedos dourados
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