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Lance le socket de test HAST avancé pour les tests de fiabilité des semi-conducteurs

2025-09-15
Latest company news about Lance le socket de test HAST avancé pour les tests de fiabilité des semi-conducteurs

Lancement d'une prise de test HAST avancée pour les tests de fiabilité des semi-conducteurs

SHENZHEN, le 15 septembre, [Sireda Technology Co., Ltd.] un fournisseur de premier plan de solutions de test de semi-conducteurs, a annoncé aujourd'hui le lancement de son nouveauRéseau HAST (test de contrainte très accéléré), conçus pour répondre aux exigences exigeantes des essais modernes de fiabilité des circuits intégrés.

La nouvelle prise de test HAST est conçue pour fonctionner dans des conditions de stress environnementaux extrêmes, permettant aux clients d'accélérer la qualification des appareils et la vérification de leur fiabilité.Il prend en charge les tests à130°C,85% d'humidité relative (RH), et sousenvironnements sous pression (généralement 2,3 atm)pour des durées allant de96 à 168 heures.

Cette capacité permet aux fabricants de semi-conducteurs et aux instituts de recherche d'évaluer la durabilité des produits et de garantir la conformité avec les normes de l'industrie pour les applications à haute fiabilité,y compris automobile, aérospatiale et électronique industrielle.

"Comme les appareils continuent de se rétrécir en taille tout en augmentant leur fonctionnalité, assurer une fiabilité à long terme est plus critique que jamais".a déclaré [nom exécutif], [titre] à [nom de la société]."Notre prise de test HAST offre la stabilité, la précision et la répétabilité requises pour les tests de résistance rigoureux, aidant les clients à raccourcir le temps de mise sur le marché tout en maintenant l'intégrité du produit".

Les principaux avantages de la prise de test HAST sont les suivants:

  • Résistance aux températures élevées et à l'humidité.
  • Des performances de contact sûres et stables dans des conditions de pression.
  • Compatibilité avec des durées d'essai plus longues (96 à 168 heures).
  • Conception évolutive, adaptable à différents types de paquets.

Avec ce lancement, Sireda continue de renforcer sa position d'innovateur dans les solutions de test de semi-conducteurs, répondant à la demande croissante de validation de fiabilité dans l'électronique avancée.

Pour plus d'informations sur la prise de test HAST et d'autres solutions de test de semi-conducteurs, veuillez visiter www.sireda.com.

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2025-09-15
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Lancement d'une prise de test HAST avancée pour les tests de fiabilité des semi-conducteurs

SHENZHEN, le 15 septembre, [Sireda Technology Co., Ltd.] un fournisseur de premier plan de solutions de test de semi-conducteurs, a annoncé aujourd'hui le lancement de son nouveauRéseau HAST (test de contrainte très accéléré), conçus pour répondre aux exigences exigeantes des essais modernes de fiabilité des circuits intégrés.

La nouvelle prise de test HAST est conçue pour fonctionner dans des conditions de stress environnementaux extrêmes, permettant aux clients d'accélérer la qualification des appareils et la vérification de leur fiabilité.Il prend en charge les tests à130°C,85% d'humidité relative (RH), et sousenvironnements sous pression (généralement 2,3 atm)pour des durées allant de96 à 168 heures.

Cette capacité permet aux fabricants de semi-conducteurs et aux instituts de recherche d'évaluer la durabilité des produits et de garantir la conformité avec les normes de l'industrie pour les applications à haute fiabilité,y compris automobile, aérospatiale et électronique industrielle.

"Comme les appareils continuent de se rétrécir en taille tout en augmentant leur fonctionnalité, assurer une fiabilité à long terme est plus critique que jamais".a déclaré [nom exécutif], [titre] à [nom de la société]."Notre prise de test HAST offre la stabilité, la précision et la répétabilité requises pour les tests de résistance rigoureux, aidant les clients à raccourcir le temps de mise sur le marché tout en maintenant l'intégrité du produit".

Les principaux avantages de la prise de test HAST sont les suivants:

  • Résistance aux températures élevées et à l'humidité.
  • Des performances de contact sûres et stables dans des conditions de pression.
  • Compatibilité avec des durées d'essai plus longues (96 à 168 heures).
  • Conception évolutive, adaptable à différents types de paquets.

Avec ce lancement, Sireda continue de renforcer sa position d'innovateur dans les solutions de test de semi-conducteurs, répondant à la demande croissante de validation de fiabilité dans l'électronique avancée.

Pour plus d'informations sur la prise de test HAST et d'autres solutions de test de semi-conducteurs, veuillez visiter www.sireda.com.