Lança Soquete de Teste HAST Avançado para Testes de Confiabilidade de Semicondutores

Lançamento de Soquete Avançado de Teste HAST para Teste de Confiabilidade de Semicondutores

SHENZHEN, 15 de Setembro, [Sireda Technology Co., Ltd.] um fornecedor líder de soluções de teste de semicondutores, anunciou hoje o lançamento de seu recém-desenvolvidoSoquete HAST (teste de esforço altamente acelerado), concebidos para satisfazer os exigentes requisitos dos modernos ensaios de fiabilidade dos circuitos integrados.

A nova tomada de ensaio HAST foi concebida para funcionar em condições de stress ambiental extremas, permitindo aos clientes acelerar a qualificação do dispositivo e a verificação da fiabilidade.Ele suporta testes em130°C,85% de umidade relativa (RH), e sobambientes pressurizados (normalmente 2,3 atm)para períodos prolongados que vão desde96 a 168 horas.

Esta capacidade permite aos fabricantes de semicondutores e às instituições de investigação avaliar a durabilidade dos produtos e assegurar a conformidade com as normas do setor para aplicações de alta fiabilidade,Incluindo automóveis, aeroespacial e electrónica industrial.

"À medida que os dispositivos continuam a encolher em tamanho enquanto expandem a funcionalidade, garantir a fiabilidade a longo prazo é mais crítico do que nunca".disse [Nome Executivo], [Título] em [Nome da Empresa]."Nosso soquete de teste HAST oferece a estabilidade, precisão e repetibilidade necessárias para testes de estresse rigorosos, ajudando os clientes a reduzir o tempo de lançamento no mercado, mantendo a integridade do produto".

Os principais benefícios da tomada de ensaio HAST incluem:

• Resistência a altas temperaturas e humidade.
• Desempenho de contacto seguro e estável em condições de pressão.
• Compatibilidade com durações de ensaio prolongadas (96~168 horas).
• Projeto escalável adaptável a vários tipos de embalagens.

Com este lançamento, a Sireda continua a reforçar a sua posição de inovadora em soluções de teste de semicondutores, atendendo à crescente demanda por validação de fiabilidade em eletrónica avançada.

Para mais informações sobre a tomada de ensaio HAST e outras soluções de ensaio de semicondutores, visite www.sireda.com.