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Hochleistungs-HF-Prüfgerät für Millimeterwellen- und Mikrowellen-IC-Charakterisierung
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Hochleistungs-HF-Prüfgerät für Millimeterwellen- und Mikrowellen-IC-Charakterisierung
| MOQ: | 1 |
| Preis: | Get Quote |
Detailinformationen
Herkunftsort
CHINA
Markenname
Sireda
Zertifizierung
ISO9001
Modellnummer
Offene Oberseite
Tonhöhe:
≥0.3mm
Bandbreite:
80g
Stiftanzahl:
2-2000+
Kompatible Pakete::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Sockelart:
Offene Oberseite
Leitertyp:
Sondenstifte, Pogo Pin, PCR
Hervorheben:
Mikrowellen-HF-Prüfgerät
,Hochleistungs-HF-Prüfgerät
,IC-Karakterisierungstest-Socket
Produktbeschreibung
Hochleistungs-HF-Testsockel für die Charakterisierung von Millimeterwellen- und Mikrowellen-ICs
Entwickelt für drahtlose Anwendungen der nächsten Generation, bieten unsere Präzisions-HF-Testsockel ultra-niedrige Signalverluste bis zu 110 GHz, wodurch sie sich ideal für die Validierung von 5G/6G, Automobilradar (77/79 GHz) und Luft- und Raumfahrtkommunikations-ICs eignen.
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Präzisions-HF-Testsockel mit verifizierten Leistungsdaten
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