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Testeur de puces de mémoire léger DDR3 X8 Adaptateur de test
| MOQ: | 1 |
| Le Prix: | Get Quote |
Adaptateur de test DDR3 X8
,Testeur de puce de mémoire des circuits intégrés
,Adaptateur de test DDR3 léger
Gardez votreTest de mémoire DDR3 x8Simple et abordable avec notreAdaptateur de test DDR3 x8. Conçu pourPrototypage, ateliers de réparation et lignes de production, cet adaptateur vous permet deValider rapidement DDR3 ICSen utilisant juste uncarte mère PC standardetLogiciel Memtest- Aucun équipement coûteux nécessaire. Parfait pourtests de matériel hérité, programmes de recyclage ou fabricants sensibles aux coûts, il fournit unefficace et économiquemoyen de dépister les puces mémoire défectueuses ou instables.
- Tests à faible coût- élimine le besoin de testeurs spécialisés coûteux, vous économisant de l'argent
- Compatibilité large- fonctionne avec la plupartCartes mères DDR3 aux consommateurs et au bureau
- Validation fiable X8 IC- Tests avec précisionPuces mémoire DDR3 8 bitsavec précision
- Flux de travail plus rapide- Identifie rapidementICS défectueux ou défectueux, réduisant les temps d'arrêt
- Léger et portable- La conception compacte maintient votre espace de travail épuré
Idéal pourTechniciens de réparation, laboratoires QA et recycleurs d'électronique, cet adaptateur faitDDR3 teste plus intelligent et plus abordableque jamais.
| P / n | Nom de produit | Description |
|---|---|---|
| 703-0001770 | Adaptateur de test | BGA82 0,8 mm DDR5X8 PCR 8EA KO-10310 |
| 703-0001815 | Adaptateur de test | BGA106 0,8 mm DDR5X16 PCR 4EA |
| 703-0000800 | Adaptateur de test | BGA96 0,8 mm DDR3X16 PCR TN 4EA |
| 703-0000799 | Adaptateur de test | BGA78 0,8 mm DDR3X8 PCR TN 8EA |
| 703-0000823 | Adaptateur de test | BGA96 0,8 mm DDR4X16 PCR TN 4EA |
| 703-0001156 | Adaptateur de test | BGA96 0,8 mm DDR4X16 KO8598A JI PCR 4EA |
| 703-0000822 | Adaptateur de test | BGA78 0,8 mm DDR4X8 PCR TN 8EA |
| 703-0001334 | Adaptateur de test | BGA78 0,8 mm DDR4X8 JI PCR 8EA KO-10081 |
- Laboratoires de R&D- Valider les performances de la mémoire IC aux premiers stades de développement.
- Tests de production- Validation fiable et IC pour la fabrication à volume élevé.
- Réparation et diagnostic- Testez rapidement les modules de mémoire défectueux avec des outils basés sur PC.
Optimisé pourfiabilité, vitesse et économiedans la mémoire de test de workflows.
