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Test DDR3 X8 leggero Adapter Tester di chip di memoria per IC legacy
| Moq: | 1 |
| Prezzo: | Get Quote |
DDR3 X8 Test Adapter
,Tester di chip di memoria degli IC
,Adapter di prova DDR3 leggero
Mantieni il tuoTest di memoria DDR3 X8semplice e conveniente con il nostroDDR3 X8 Adattatore di prova. Progettato perprototipazione, negozi di riparazioni e linee di produzione, questo adattatore ti consente di farloConvalida rapidamente DDR3 ICSusando solo unscheda madre standard per PCESoftware memtest- Nessuna attrezzatura costosa necessaria. Perfetto perTest hardware legacy, programmi di riciclaggio o produttori sensibili ai costi, fornisce unefficiente ed economicomodo per schermare i chip di memoria difettosi o instabili.
- Test a basso costo- Elimina la necessità di costosi tester specializzati, risparmiando denaro
- Ampia compatibilità- Funziona con la maggior parteMadelle DDR3 di consumo e di livello ufficio
- Convalida affidabile X8 IC- Test accuratamenteChip di memoria DDR3 a 8 bitcon precisione
- Flusso di lavoro più veloce- identifica rapidamenteICS difettosi o falliti, riducendo i tempi di inattività
- Leggero e portatile- Il design compatto mantiene l'area di lavoro ordinata
Ideale perTecnici di riparazione, laboratori di controllo qualità e riciclatori elettronici, questo adattatore faTest DDR3 più intelligente e più convenienteche mai.
| P/n | Nome prodotto | Descrizione |
|---|---|---|
| 703-0001770 | Adattatore di prova | BGA82 0,8 mm DDR5x8 PCR 8EA KO-10310 |
| 703-0001815 | Adattatore di prova | BGA106 0,8 mm DDR5x16 PCR 4EA |
| 703-0000800 | Adattatore di prova | BGA96 0,8 mm DDR3x16 PCR TN 4EA |
| 703-0000799 | Adattatore di prova | BGA78 0,8 mm DDR3X8 PCR TN 8EA |
| 703-0000823 | Adattatore di prova | BGA96 0,8 mm DDR4x16 PCR TN 4EA |
| 703-0001156 | Adattatore di prova | BGA96 0,8 mm DDR4X16 KO8598A JI PCR 4EA |
| 703-0000822 | Adattatore di prova | BGA78 0,8 mm DDR4x8 PCR TN 8EA |
| 703-0001334 | Adattatore di prova | BGA78 0,8 mm DDR4x8 Ji PCR 8EA KO-10081 |
- Laboratorio di ricerca e sviluppo- Convalida le prestazioni della memoria IC nelle prime fasi di sviluppo.
- Test di produzione-Convalida affidabile di burn-in e IC per la produzione ad alto volume.
- Riparazione e diagnostica- Testare rapidamente i moduli di memoria difettosi con strumenti basati su PC.
Ottimizzato peraffidabilità, velocità ed efficienza in termini di costinei flussi di lavoro di test di memoria.
