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Adaptador de teste leve DDR3 X8 Teste de chip de memória para ICs legados
| MOQ: | 1 |
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Adaptador de teste DDR3 X8
,Teste de chips de memória de ICs
,Adaptador de teste DDR3 leve
Mantenha o seuTeste de memória DDR3 X8Simples e acessíveis com o nossoAdaptador de teste DDR3 X8. Concebido paraPrototipos, oficinas de reparação e linhas de produção, este adaptador permite-lheValidação rápida dos circuitos integrados DDR3Usando apenas umplaca-mãe PC padrãoeSoftware MemTestNão são necessários equipamentos caros.Testes de hardware legado, programas de reciclagem ou fabricantes sensíveis aos custos, proporciona umaeficiente e econômicoforma de detectar chips de memória defeituosos ou instáveis.
- Testes de baixo custoEliminando a necessidade de pesquisadores especializados caros, poupando dinheiro
- Compatibilidade geralFunciona com a maioria dosplacas-mãe DDR3 de consumo e de escritório
- Validação de IC X8 fiável¢ Testes precisosChips de memória DDR3 de 8 bitscom precisão
- Fluxo de trabalho mais rápidoIdentifica-se rapidamenteICs defeituosas ou com falha, reduzindo o tempo de inatividade
- Leve e portátilO design compacto mantém o seu espaço de trabalho desordenado
Ideal paratécnicos de reparação, laboratórios de controlo de qualidade e recicladores de eletrónica, este adaptador fazTestes DDR3 mais inteligentes e mais acessíveisMais do que nunca.
| P/N | Nome do produto | Descrição |
|---|---|---|
| 703-0001770 | Adaptador de teste | BGA82 0,8 mm DDR5x8 PCR 8ea KO-10310 |
| 703-0001815 | Adaptador de teste | BGA106 0,8 mm DDR5x16 PCR 4ea |
| 703-0000800 | Adaptador de teste | BGA96 0,8 mm DDR3x16 PCR TN 4ea |
| 703-0000799 | Adaptador de teste | BGA78 0,8 mm DDR3x8 PCR TN 8ea |
| 703-0000823 | Adaptador de teste | BGA96 0,8 mm DDR4x16 PCR TN 4ea |
| 703-0001156 | Adaptador de teste | BGA96 0,8 mm DDR4x16 KO8598A JI PCR 4ea |
| 703-0000822 | Adaptador de teste | BGA78 0,8 mm DDR4x8 PCR TN 8ea |
| 703-0001334 | Adaptador de teste | BGA78 0,8 mm DDR4x8 JI PCR 8ea KO-10081 |
- Laboratórios de I & D- Validar o desempenho do IC de memória em estágios iniciais de desenvolvimento.
- Ensaios de produção- Validação confiável do burn-in e do IC para a fabricação de grandes volumes.
- Reparo e diagnóstico- Teste rapidamente módulos de memória defeituosos com ferramentas baseadas em PC.
Otimizado paraconfiabilidade, rapidez e custo-eficiênciaem fluxos de trabalho de teste de memória.
