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ICテストソケット

高温と高湿度老化試験のための耐久性のあるクラムシェルソケット

高性能ATE ICテストソケット メモリテスト用精密ソリューション

ATE エンジニアリング バリダーション IC 試験ソケット 生産前試験の精度

高サイクル ATE IC 試験ソケット 要求の高い生産試験のための長期間の性能

マルチDUTソケット 同期IC試験ソケット より高速なスループット より高効率

4 ワイヤ精度ケルビン試験ソケット 低抵抗試験 調整可能

テスト コネクター

高信頼性DPテストプラグ テストコネクタ 自動DisplayPortテスト用

耐久性 信頼性の高いホットスワップ検証のための産業用グレードのマイクロUSB 2.0テストプラグ

自動マイクロUSB2.0 試験装置 QC/QA/ショート・サーキット試験のためのツールフリーコネクタ

高サイクル ミニ B USB テストプラグ - 信頼性の高い産業用テスト用

耐久性のあるUSB 2.0テストプラグ 金メッキ接点 15000回以上の挿入サイクルに対応

USB-C スクリーンテストプラグ 工業グレード バーンインテスト Type C コネクタ用

BGA試験ソケット

RF 試験ソケット

ミリメートル波とマイクロ波ICの特徴付けのための高性能RF試験装置

高周波IC検証用オープントップ精密RFテストソケット

エラストーマーソケット

ラバーエラストマーソケット 耐久性エラストマーコネクタ 無はんだボール損傷

非破壊的なBGA試験ソケット 25GHz高速試験ソケット 迅速交換設計

PGAソケット

カスタムBGA-PGAアダプターテストソケットアダプター 信頼性の高い高電流テストソケット

精密 PGA ZIF ソケット 信頼性の高い PGA/CPGA IC テストソケット カスタムピン

fpc試験コネクタ

FPC/FFCテストソケット 高速フレキシブルPCBテストコネクタ 長寿命

Pogoピン FPC/FFCソケット 信頼性の高いフレキシブル回路テストコネクタ 高い耐久性

電子機器製造向け自動FFC/FPCテストソケット精密検査

FPC/FFC 高速低抵抗用 100μM マイクロピッチPCB試験コネクタ

DIMMテストソケット

高周波DIMM試験ソケット メモリモジュールソケット BeCu 金属

SODIMM 262 PIN DDR5 試験ソケット 自動化試験用産業用

カスタム R-DIMM 288 PIN DDR5 テストソケット、産業用およびサーバーメモリテストソケット

U-DIMM 288-PIN DDR5 テストソケット 高サイクル自動 DIMM 検証

DDRテストアダプタ

熱テスト部屋

DIMMバーンイン試験チャンバー 信頼性の高い熱試験チャンバー メモリモジュールエージングソリューション

コンパクト ベンチトップ 熱試験システム -55°C から 150°C 急速チップ試験

カメラモジュールソケット

耐久性のあるFPCカメラテストソケットソリューション 柔軟なPCB老化テスト装置

カスタマイズ可能なカメラモジュール 試験ソケット 固定装置に燃焼 高精度探査機接触ソリューション

コンパクトCCMテストソケットとビジョン検査フィクスチャ オートフォーカス/ISP検証ツール

蓋を閉じるカメラPCBテストソケットバーンインジグ信号デバッグとライフサイクルテスト

信号と性能検証のための精密カメラ試験ソケット

メモリチップオフリーダー

SDカードメモリチップオフリーダー 多目的USB接続

プレミアムEMMC BGA100 ICチップリーダー 高速メモリチップオフリーダー

ISO9001 BGA153 EMMC データ復旧ツール、破損チップの修復と失われたデータの復元

信頼性の高いチップオフデータ復旧ツール BGA153 EMMC 読み書きツール

安定したメモリチップオフリーダーUSBカードリーダー、ICテストとデータ復旧用

メモリテストソケット

LPDDR4 メモリテスター BGA200 ICテストソケット IQCおよび製造用

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