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고성능 BGA 테스트 소켓 맞춤형 IC 테스트 솔루션
| 모크: | 1 |
| 가격: | Get Quote |
상세 정보
원래 장소
중국
브랜드 이름
Sireda
인증
ISO9001
모델 번호
열린 상단
정점:
≥0.3mm
핀 수:
2-2000+
호환 패키지 ::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
소켓 유형:
열린 상단
지휘자 유형:
프로브 핀, 포고 핀, PCR
강조하다:
고성능 BGA 테스트 소켓
,고성능 BGA IC 소켓
,맞춤형 BGA 테스트 소켓
제품 설명
BGA 테스트 소켓 - IC 테스트를 위한 맞춤형 솔루션
- 폭 넓은 음역: 모든 BGA 패키지 유형에 0.3mm ~ 1.5mm
- 높은 & 낮은 온도 지원: -55°C ~ +140°C (연소 및 검증)
- 다중 디자인: 오픈 톱, 클래시 셸, ATE, CT
- 모든 검사 필요성: 연소, 기능 테스트, 프로그래밍
- 내구성: 50,000+ 회전, 높은 신뢰성
빠른 사용자 정의여러분의 요구사항을 알려주세요. 완벽한 테스트 소켓을 구입하세요.
사용자 정의 BGA 테스트 소켓: 기본 사양
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재산 |
매개 변수 |
전형적 가치 |
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기계식 |
삽입 주기는 |
≥30K~50K 사이클 |
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연락력 |
20~30g/핀 |
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작동 온도 |
상업적 -40 ~ +125 |
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용인성 |
±0.01mm |
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전기 |
접촉 저항 |
<50mΩ |
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임페던스 |
50Ω (±5%) |
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전류 |
1.5A~3A |
BGA 테스트 소켓 솔루션
프로토타입을 검증하고, IC를 프로그래밍하거나, 대용량 생산 테스트를 실행하든, 우리의 맞춤형 BGA 테스트 소켓은 정확성과 반복성을 보장합니다.우리의 소켓은 안정적인 접촉 저항을 유지하면서 열 스트레스 아래 왜곡을 방지하기 위해 견고한 기계적 디자인을 갖추고 있습니다자동 처리기 및 테스터와 호환되며, 정지 시간을 줄이는 동시에 검증 프로세스를 간소화합니다.
