|
Niet-destructieve BGA-proefsluiting 25 GHz High Speed Test Socket Quick Swap Design
| Moq: | 1 |
| Prijs: | Get Quote |
BGA-testsocket 25 GHz
,Niet-destructieve BGA-testsocket
,25GHz hoogsnelheidstestsocket
Niet-destructieve BGA-test sokkels 25GHz High-Speed & Quick-Swap Design
Hybride elastomeermatrix
Zelfherstellende geleidende lagen behouden een stabiel contact door thermische cyclus (-40 °C tot +125 °C)
Onderhoud zonder gereedschap
Het modulaire ontwerp maakt volledige vervanging van het contactnet mogelijk inminder dan 2 minuten
Universele verenigbaarheid
Aanpasbaar voorBGA, QFN, CSP en PoPteststukken (op maat gemaakte configuraties beschikbaar)
Nul balschade
Compressie krachten onder controle binnen20-25 g/bal(in vergelijking met de industriestandaard van 30 g+)
GewoonElastomeerTestsoket
|
Vastgoed |
Parameter |
Typische waarde |
|
Mechanische apparatuur |
Invoegcyclussen |
≥ 30K ̇ 50K cycli |
|
|
Contactkracht |
15 tot 25 g/pin |
|
|
Werktemperatuur |
Commerciële -40 ~ +125 |
|
|
Tolerantie |
±0,01 mm |
|
Elektrische apparatuur |
Contactweerstand |
< 50 mΩ |
|
|
Impedantie |
50Ω (±5%) |
|
|
Stroom |
1.5A~3A |
Waarom kiezen voor onze rubberproefbuizen?
OnzeelastomeerproefstukkenHet aanbodperfecte balans tussen prestaties, duurzaamheid en gebruiksgemak, waardoor accurate tests worden gewaarborgd en tegelijkertijd uw IC's worden beschermd.5G/RF-toepassingen, ultrafijne toonhoogte sonde, of langdurige verbrandingsbetrouwbaarheid, onzezacht contact, weinig onderhoudHet ontwerp vermindert de kosten en verlengt de levensduur van uw testinstallatie.
✔Geen schade aan soldeerballen of pads¢ Precieze krachtverdeling beschermt uw IC's
✔Langdurig– 100K+ test cycles with minimal performance degradation
✔Gemakkelijk onderhoud– Swap contact pins in minutes, no special tools required
✔Hoogfrequentie-aansluiting- betrouwbare signaalintegratie tot25 GHz
✔Universele compatibiliteitWerkt metBGA, QFN, CSP, PoP & meer
Heb je een oplossing nodig?Neem vandaag nog contact met ons op om uw IC-testbehoeften te besprekenop maat gemaakte ontwerpen van proefboeienvoor geavanceerde halfgeleidertoepassingen.
