Socket de test BGA non destructeur 25 GHz Socket de test à haute vitesse Quick Swap

Sockets de test BGA non destructifs | Conception haute vitesse 25 GHz et échange rapide

Matrice élastomère hybride 

Les couches conductrices auto-cicatrisantes maintiennent un contact stable lors des cycles thermiques (-40°C à +125°C)

Maintenance sans outil 

La conception modulaire permet le remplacement complet de la grille de contact enmoins de 2 minutes

Compatibilité universelle 

Adaptable pourBGA, QFN, CSP et PoPsockets de test (configurations personnalisées disponibles)

Aucun dommage aux billes 

Force de compression contrôlée dans20-25g/bille (contre 30g+ standard de l'industrie)

PersonnaliséÉlastomèreSocket de test

Pourquoi choisir nos sockets de test en caoutchouc ?

Nossockets de test élastomèresoffrent l'équilibre parfait entre performance, durabilité et facilité d'utilisation, garantissant des tests précis tout en protégeant vos circuits intégrés. Que vous ayez besoin de tests haute fréquence pour lesapplications 5G/RF, d'une sonde à pas ultra-fin ou d'une fiabilité de rodage à long terme, notre conceptionà contact doux et à faible entretienréduit les coûts et prolonge la durée de vie de votre configuration de test.

✔Aucun dommage aux billes de soudure ou aux pastilles – La distribution précise de la force protège vos circuits intégrés
✔Longue durée de vie – Plus de 100 000 cycles de test avec une dégradation minimale des performances
✔Entretien facile – Remplacez les broches de contact en quelques minutes, aucun outil spécial requis
✔Haute fréquence possible – Intégrité du signal fiable jusqu'à25 GHz
✔Compatibilité universelle – Fonctionne avecBGA, QFN, CSP, PoP et plus

Besoin d'une solution personnalisée ?Contactez-nous dès aujourd'hui pour discuter de vos besoins en matière de tests de circuits intégrés—nous sommes spécialisés dans lesconceptions de sockets de test sur mesurepour les applications de semi-conducteurs avancées.