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Socket d'essai IC personnalisable à styles multiples pour les paquets BGA/QFN/SOP
| MOQ: | 1 |
| Le Prix: | Get Quote |
Socket de test IC à styles multiples
,Socket d'essai de circuits intégrés personnalisable
,Socket d'essai de semi-conducteurs personnalisable
Support de test CI - Plusieurs styles disponibles (Couvercle à clapet)
Besoin du bon support de test CI pour votre puce ? Fournissez vos dessins et décrivez votre cas d'utilisation—nos experts vous recommanderont la meilleure solution ! Que vous privilégiez un accès rapide par clapet, un réglage précis ou une gestion thermique avancée, nous avons des solutions optimisées pour des tests rapides et fiables. Obtenez un support personnalisé pour une inspection et une validation sans faille.
Clapet Support
Convient pour un remplacement rapide de la puce avec moins de 200 billes pour améliorer l'efficacité.
Bouton rotatif supérieur
Idéal pour les puces avec plus de 200 billes pour éviter d'endommager les billes lors de la manipulation.
Couvercle avec cadran de réglage de l'épaisseur
Permet une adaptation rapide pour les puces de différentes épaisseurs.
Bloc de pression avec dissipateur thermique
Intègre des fonctions de refroidissement pour gérer la chaleur pendant les opérations.
Ventilateur de refroidissement monté sur le dessus
Assure une régulation thermique active pour une stabilité d'utilisation prolongée.
Vous trouverez ci-dessous les spécifications essentielles que les ingénieurs évaluent lors de la sélection des supports de test pour une fiabilité et un débit maximum :
Support de test CI : Spécifications principales
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Propriété |
Paramètre |
Valeur typique |
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Mécanique |
Cycles d'insertion |
≥30 000–50 000 cycles |
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Force de contact |
20–30 g/broche |
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Température de fonctionnement |
Commercial -40 ~ +125 |
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Tolérance |
±0,01 mm |
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Électrique |
Résistance de contact |
<50 mΩ |
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Impédance |
50Ω (±5 %) |
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Courant |
1,5 A~3 A |
Nous proposons une gamme complète de solutions de supports de test CI, des conceptions standard de l'industrie aux configurations entièrement personnalisées.
Nos offres standard comprennent :
- Supports de test BGA (pas de 0,3 mm à 1,27 mm)
- Supports QFN/LGA (conceptions à faible force d'insertion)
- Supports haute fréquence (performances jusqu'à 67 GHz)
- Supports de rodage et automobiles (versions à durabilité étendue)
Besoin de quelque chose de différent ? Nous sommes spécialisés dans les conceptions de supports personnalisés pour :
- Boîtiers CI non standard
- Tests en environnement extrême (température/vibration élevées)
- Applications à courant élevé
- Exigences particulières en matière d'intégrité du signal
Obtenez exactement ce dont vous avez besoin :
- Consultation de conception gratuite
- Prototypage rapide (échantillons en 14 jours)
- Validation de test personnalisée
[Contactez notre équipe d'ingénieurs] dès aujourd'hui pour discuter de vos exigences spécifiques en matière de supports de test.
