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Sockets d'essai IC à haute température pour les tests de semi-conducteurs
| MOQ: | 1 |
| Le Prix: | Get Quote |
Ouvrir les prises de test IC supérieures
,Programmer les prises de test IC
,Socket d'essai pour semi-conducteurs à haute température
Socket de test de programmation et de burn-in à ouverture supérieure de qualité supérieure pour les tests de semi-conducteurs exigeants
Conçus pour la fiabilité dans les environnements à haute température (jusqu'à 130°C+), nos sockets de test de burn-in garantissent des performances constantes pendant les cycles prolongés de programmation et de test des circuits intégrés. Avec :
- Configurations personnalisables pour correspondre à votre boîtier de circuit intégré spécifique (BGA, QFN, CSP, etc.)
- Construction robuste pour des insertions/extractions répétées sans usure
- Optimisé pour l'intégration des équipements de test automatisés (ATE)
Idéal pour les fabricants de semi-conducteurs, les laboratoires de test et les installations de R&D nécessitant précision et longévité.
Vous trouverez ci-dessous les spécifications essentielles que les ingénieurs évaluent lors de la sélection des sockets de test pour une fiabilité et un débit maximum :
Socket de test de circuit intégré à ouverture supérieure personnalisé: Spécifications principales
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Propriété |
Paramètre |
Valeur typique |
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Mécanique |
Cycles d'insertion |
≥30 000 à 50 000 cycles |
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Force de contact |
20 à 30 g/broche |
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Température de fonctionnement |
Commercial -40 ~ +125 |
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Tolérance |
±0,01 mm |
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Électrique |
Résistance de contact |
<50 mΩ |
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Impédance |
50 Ω (±5 %) |
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Courant |
1,5 A~3 A |
Votre partenaire de confiance pour des solutions de sockets de test de circuits intégrés de précision
Chez Sireda, nous proposons des solutions de sockets de test de bout en bout—des modèles standard à volume élevé aux configurations entièrement sur mesure conçues pour vos exigences exactes.
Solutions standard prêtes pour un déploiement immédiat :
✔ Sockets BGA à pas fin (options de pas de 0,3 mm à 1,5 mm)
✔ Sockets QFN/LGA à profil bas avec actionnement à force d'insertion nulle (ZIF)
✔ Sockets haute vitesse/RF (CC à 70 GHz avec une perte de signal minimale)
✔ Sockets critiques pour les environnements de burn-in, automobiles et MIL-STD
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