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Sockets de test CI ATE haute performance Solutions de précision pour le test de mémoire

Sockets de test CI ATE haute performance Solutions de précision pour le test de mémoire

MOQ: 1
Le Prix: Get Quote
Informations détaillées
Lieu d'origine
CHINE
Nom de marque
Sireda
Certification
ISO9001
Numéro de modèle
Top
Pas:
≥0.3mm
Comptage des broches:
2-2000 +
Packages compatibles::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Type de socket:
Top
Type de conducteur:
Broches de sonde, broche pogo, PCR
Caractéristiques:
Très personnalisable
Mettre en évidence:

Sockets de test CI haute performance

,

Solutions de précision pour sockets de test CI

,

Socket de test de mémoire haute performance

Description du produit
Sockets de test de circuits intégrés ATE de qualité supérieure pour les applications de test final automatisé (FT)

Nos prises de test ATE IC haute performance sont conçues spécifiquement pour les systèmes d'équipement de test automatisé (ATE) aux stades de test final (FT), offrant des performances de contact ultra fiables pour la mémoire,logique, et des essais de production à grande échelle.

  • ✔ Optimisé pour la manutention automatisée - Conçu pour une intégration transparente avec les systèmes ATE de pick-and-place pour maximiser le débit
  • ✔ Contacts d'essai de précision - Les options de broche à pin ou de ressort à cycle élevé assurent des connexions électriques stables à travers des milliers de cycles d'essai
  • ✔ Fiabilité de l'étape FT - Rigoureusement validée pour une utilisation dans les processus d'essai final (FT) où l'intégrité et la répétabilité du signal sont essentielles
  • ✔ Prêt à la mémoire et à la production - Idéal pour la DRAM, le Flash, le SoC et d'autres circuits intégrés à volume élevé nécessitant une validation constante
Sockets de test CI ATE haute performance Solutions de précision pour le test de mémoire 0
Deux prises DUT
Sockets de test CI ATE haute performance Solutions de précision pour le test de mémoire 1
Une prise DUT
Principales caractéristiques et avantages:
  • Durabilité supérieure - Conçu pour des essais de cycle élevé avec des matériaux robustes qui résistent à des milliers d'insertions
  • Large compatibilité - Prend en charge BGA, QFN, SOP et autres paquets IC
  • Technologie de contact de précision - sondes à ressorts à faible résistance ou broches pour connexions électriques fiables
  • Configurations personnalisées - Équipements d'essai adaptés aux conceptions uniques des circuits intégrés et aux exigences d'essai
  • Options thermiques et à haute fréquence - prises spécialisées pour les tests de combustion, de température élevée et de RF

Pour plus d'options ou des demandes personnalisées, voir les détails ci-dessous ou contactez nos ingénieurs.

Sockets de test CI ATE haute performance Solutions de précision pour le test de mémoire 2
Socket d'essai personnalisé: spécifications de base
Les biens immobiliers Paramètre Valeur typique
Les appareils électroménagers Cycles d'insertion Cycles ≥ 30K-50K
Force de contact 20 à 30 g par broche
Température de fonctionnement Commercial -40 ~ +125
Military -55 ~ +130
La tolérance ± 0,01 mm
Électricité Résistance au contact Pour les appareils à combustion
Impédance 50Ω (± 5%)
Actuel 1.5A à 3A
Solutions de prises de test IC - Tests de précision pour des applications exigeantes

Que ce soit pour valider des prototypes, programmer des circuits intégrés, ou exécuter des tests de production à grande échelle, nos prises de test personnalisées assurent précision et répétabilité.Nos prises sont dotées de conceptions mécaniques robustes pour empêcher la déformation sous contrainte thermique tout en maintenant une résistance de contact stableCompatibles avec les gestionnaires et les testeurs automatisés, ils rationalisent votre processus de validation tout en réduisant les temps d'arrêt.