|
Präzisions-IC-Chip-Testsockel Halbleiter Hochgenaue Chip-Testlösungen
| MOQ: | 1 |
| Preis: | Get Quote |
Präzisions-IC-Chip-Testsockel
,Hochgenaue Testsockel Halbleiter
,Hochgenaue Chip-Testsockel
Als HauptrolleHersteller der Prüfsteckdose des ICWir sind spezialisiert auf Präzisionstechnik.Prüfsteckdosen für ChipWir haben eine Reihe von Lösungen entwickelt, die eine genaue und wiederholbare Validierung von integrierten Schaltungen gewährleisten.Versuchssteckdosensind für anspruchsvolle Anwendungen wie Halbleiterproduktion, Burn-in-Prüfung und Qualitätskontrolle ausgelegt.
- Überlegene Haltbarkeit- Gebaut fürPrüfungen im Hochzyklusmit robusten Materialien, die Tausenden von Einfügungen standhalten
- Allgemeine Vereinbarkeit- UnterstütztBGA, QFN, SOP und andere IC-Pakete
- Präzisionskontakttechnik- Niedrigwiderstandsfähige Federsonden oder Pogo-Pins für zuverlässige elektrische Verbindungen
- Benutzerdefinierte Konfigurationen- Maßgeschneiderte Prüfvorrichtungen für einzigartige IC-Konstruktionen und Prüfbedürfnisse
- Thermische und Hochfrequenzoptionen- Spezialisierte Steckdosen fürVerbrennungs-, Hochtemperatur- und HF-Tests
| Eigentum | Parameter | Typischer Wert |
|---|---|---|
| Mechanische | Zyklen der Einfügung | ≥ 30K-50K Zyklen |
| Kontakttruppe | 20 bis 30 g/Pin | |
| Betriebstemperatur | -40 bis +125 Militärische -55 ~ +130 |
|
| Toleranz | ± 0,01 mm | |
| Elektrotechnik | Kontaktwiderstand | < 50 mΩ |
| Impedanz | 50Ω (± 5%) | |
| Strom | 1.5A~3A |
IC-Test-Socket-Lösungen - Präzisionsprüfung für anspruchsvolle Anwendungen
Egal, ob Sie Prototypen validieren, ICs programmieren oder Tests in großer Produktion durchführen, unsere benutzerdefinierten Testsäulen gewährleisten Genauigkeit und Wiederholbarkeit.Unsere Steckdosen verfügen über robuste mechanische Konstruktionen, um Verkrümmung unter thermischer Belastung zu verhindern und gleichzeitig einen stabilen Kontaktwiderstand zu erhalten.. Kompatibel mit automatisierten Handlern und Testern, sie rationalisieren Ihren Validierungsprozess und reduzieren die Ausfallzeiten.
