Produk
detail produk
Rumah > Produk >
Adaptor Soket Uji DRAM Berkinerja Tinggi Dukungan DDR3/DDR4/DDR5

Adaptor Soket Uji DRAM Berkinerja Tinggi Dukungan DDR3/DDR4/DDR5

Moq: 1
Harga: Get Quote
Informasi Detail
Tempat asal
CINA
Nama merek
Sireda
Sertifikasi
ISO9001
Nomor model
Buka atasan
Melempar:
≥1.27mm
Jumlah pin:
100-1000+
Paket yang kompatibel::
PGA
Jenis konduktor:
Pin terminal
Menyoroti:

Soket Uji DRAM Berkinerja Tinggi

,

Adaptor Soket Uji DDR3

,

Adaptor Soket Uji DDR5

Deskripsi produk
DRAM Test Sockets & Adapters - High-Performance Memory IC Testing Solutions
Fitur Utama:
  • Dirancang Sesuai Permintaan Pasar- Tepat dikerjakan untuk menyesuaikan modul memori standar dan frekuensi tinggi untuk pengujian yang akurat.
  • Kompatibilitas Multi-Platform- Bekerja dengan motherboard PC standar (dukungan MEMTEST) & peralatan pengujian profesional.
  • Ketahanan yang Lebih Lama- Konstruksi yang kokoh memastikan umur layanan yang panjang bahkan di bawah penggunaan berat.
  • Universal Chip Fit- Mengakomodasi berbagai ukuran chip DRAM (DDR3/DDR4/DDR5) dengan mudah.
  • Perbaikan Mudah- Pemisahan sederhana & pembersihan untuk waktu downtime minimal.
Adaptor Soket Uji DRAM Berkinerja Tinggi Dukungan DDR3/DDR4/DDR5 0 Adaptor Soket Uji DRAM Berkinerja Tinggi Dukungan DDR3/DDR4/DDR5 1
Spesifikasi Produk
P/N Nama produk Deskripsi
703-0001770 Adaptor Uji BGA82 0,8mm DDR5x8 PCR 8ea KO-10310
703-0001815 Adaptor Uji BGA106 0,8mm DDR5x16 PCR 4ea
703-0000800 Adaptor Uji BGA96 0,8mm DDR3x16 PCR TN 4ea
703-0000799 Adaptor Uji BGA78 0,8mm DDR3x8 PCR TN 8ea
703-0000823 Adaptor Uji BGA96 0,8mm DDR4x16 PCR TN 4ea
703-0001156 Adaptor Uji BGA96 0,8mm DDR4x16 KO8598A JI PCR 4ea
703-0000822 Adaptor Uji BGA78 0,8mm DDR4x8 PCR TN 8ea
703-0001334 Adaptor Uji BGA78 0,8mm DDR4x8 JI PCR 8ea KO-10081
Ideal untuk:
  • Laboratorium R & D- Memvalidasi kinerja IC memori pada tahap awal pengembangan.
  • Pengujian Produksi- Validasi burn-in dan IC yang dapat diandalkan untuk manufaktur volume tinggi.
  • Perbaikan & Diagnosis- Cepat uji modul memori yang rusak dengan alat berbasis PC.

Dioptimalkan untukkeandalan, kecepatan, dan efisiensi biayadalam proses pengujian memori.