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Adaptador de soquete de teste DRAM de alto desempenho Suporte DDR3/DDR4/DDR5

Adaptador de soquete de teste DRAM de alto desempenho Suporte DDR3/DDR4/DDR5

MOQ: 1
Preço: Get Quote
Informações Detalhadas
Lugar de origem
CHINA
Marca
Sireda
Certificação
ISO9001
Número do modelo
Open Top
Tom:
≥1,27 mm
Contagem de pinos:
100-1000+
Pacotes compatíveis::
PGA
Tipo de condutor:
Pino terminal
Destacar:

Soquete de teste DRAM de alto desempenho

,

Adaptador de soquete de teste DDR3

,

Adaptador de soquete de teste DDR5

Descrição do produto
DRAM TEST SOCKETS & ADAPTADORES - Soluções de teste de IC de memória de alto desempenho
Principais recursos:
  • Projetado sob medida para a demanda de mercado- Módulos de memória padrão e de alta frequência com precisão para ajustar os módulos de memória para testes precisos.
  • Compatibilidade com várias plataformas- Trabalha com placas -mãe PC padrão (suporte de MEMTEST) e equipamentos de teste profissional.
  • Durabilidade prolongada- A construção robusta garante uma longa vida útil de serviço, mesmo sob uso pesado.
  • Universal Chip Fit- Acomoda tamanhos de chip DRAM variados (DDR3/DDR4/DDR5) com facilidade.
  • Manutenção fácil- Desmontagem simples e limpeza para o mínimo de tempo de inatividade.
Adaptador de soquete de teste DRAM de alto desempenho Suporte DDR3/DDR4/DDR5 0 Adaptador de soquete de teste DRAM de alto desempenho Suporte DDR3/DDR4/DDR5 1
Especificações do produto
P/n Nome do produto Descrição
703-0001770 Adaptador de teste BGA82 0,8mm DDR5X8 PCR 8EA KO-10310
703-0001815 Adaptador de teste BGA106 0,8 mm DDR5X16 PCR 4EA
703-0000800 Adaptador de teste BGA96 0,8 mm DDR3X16 PCR TN 4EA
703-0000799 Adaptador de teste BGA78 0,8mm DDR3X8 PCR TN 8EA
703-0000823 Adaptador de teste BGA96 0,8 mm DDR4X16 PCR TN 4EA
703-0001156 Adaptador de teste BGA96 0,8mm DDR4X16 KO8598A JI PCR 4EA
703-0000822 Adaptador de teste BGA78 0,8mm DDR4X8 PCR TN 8EA
703-0001334 Adaptador de teste BGA78 0,8mm DDR4X8 JI PCR 8EA KO-10081
Ideal para:
  • Laboratórios de P&D- Valide o desempenho da memória em estágios de desenvolvimento em estágios iniciais de desenvolvimento.
  • Teste de produção-Burn-in e validação confiável para fabricação de alto volume.
  • Reparo e diagnóstico- Teste rapidamente módulos de memória com defeito com ferramentas baseadas em PC.

Otimizado paraconfiabilidade, velocidade e custo-eficiêncianos fluxos de trabalho de teste de memória.