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Adattatore per zoccolo di test DRAM ad alte prestazioni Supporto DDR3/DDR4/DDR5

Adattatore per zoccolo di test DRAM ad alte prestazioni Supporto DDR3/DDR4/DDR5

Moq: 1
Prezzo: Get Quote
Informazioni Dettagliate
Luogo di origine
Cina
Marca
Sireda
Certificazione
ISO9001
Numero di modello
Open top
Pece:
≥1,27 mm
Conteggio dei perni:
100-1000+
Pacchetti compatibili::
PGA
Tipo di conduttore:
Pin terminale
Evidenziare:

Zoccolo di test DRAM ad alte prestazioni

,

Adattatore per zoccolo di test DDR3

,

Adattatore per zoccolo di test DDR5

Descrizione del prodotto
Dram Test Sockets & Adapter - Soluzioni di test IC Memoria ad alte prestazioni
Caratteristiche chiave:
  • Progettato su misura per la domanda di mercato- Macchinato con precisione per adattarsi a moduli di memoria standard e ad alta frequenza per test accurati.
  • Compatibilità multipiattaforma- Funziona con schede madri per PC standard (supporto MemTest) e attrezzature di test professionali.
  • Durata estesa- La costruzione robusta garantisce una lunga durata di servizio anche sotto un uso intenso.
  • Fit di chip universale- Assegna facilità a vari dimensioni del chip DRAM (DDR3/DDR4/DDR5).
  • Facile manutenzione- Smontaggio semplice e pulizia per tempi di inattività minimi.
Adattatore per zoccolo di test DRAM ad alte prestazioni Supporto DDR3/DDR4/DDR5 0 Adattatore per zoccolo di test DRAM ad alte prestazioni Supporto DDR3/DDR4/DDR5 1
Specifiche del prodotto
P/n Nome prodotto Descrizione
703-0001770 Adattatore di prova BGA82 0,8 mm DDR5x8 PCR 8EA KO-10310
703-0001815 Adattatore di prova BGA106 0,8 mm DDR5x16 PCR 4EA
703-0000800 Adattatore di prova BGA96 0,8 mm DDR3x16 PCR TN 4EA
703-0000799 Adattatore di prova BGA78 0,8 mm DDR3X8 PCR TN 8EA
703-0000823 Adattatore di prova BGA96 0,8 mm DDR4x16 PCR TN 4EA
703-0001156 Adattatore di prova BGA96 0,8 mm DDR4X16 KO8598A JI PCR 4EA
703-0000822 Adattatore di prova BGA78 0,8 mm DDR4x8 PCR TN 8EA
703-0001334 Adattatore di prova BGA78 0,8 mm DDR4x8 Ji PCR 8EA KO-10081
Ideale per:
  • Laboratorio di ricerca e sviluppo- Convalida le prestazioni della memoria IC nelle prime fasi di sviluppo.
  • Test di produzione-Convalida affidabile di burn-in e IC per la produzione ad alto volume.
  • Riparazione e diagnostica- Testare rapidamente i moduli di memoria difettosi con strumenti basati su PC.

Ottimizzato peraffidabilità, velocità ed efficienza in termini di costinei flussi di lavoro di test di memoria.