Soket Uji IC ATE Berkinerja Tinggi Solusi Presisi Untuk Pengujian Memori

Soket tes ATE IC berkinerja tinggi kami dirancang khusus untuk sistem peralatan uji otomatis (ATE) pada tahap Tes Akhir (FT), memberikan kinerja kontak yang sangat andal untuk memori,logika, dan pengujian produksi bervolume tinggi.

• ✔ Dioptimalkan untuk penanganan otomatis - Dirancang untuk integrasi mulus dengan sistem ATE pick-and-place untuk memaksimalkan throughput
• ✔ Kontak Uji Presisi - Pilihan pin pogo siklus tinggi atau probe pegas memastikan koneksi listrik yang stabil melalui ribuan siklus uji
• ✔ Keandalan FT-Stage - Divalidasi secara ketat untuk digunakan dalam proses uji akhir (FT) di mana integritas sinyal dan repeatability sangat penting
• ✔ Memori & Produksi-Siap - Ideal untuk DRAM, Flash, SoC, dan IC volume tinggi lainnya yang membutuhkan validasi yang konsisten

• Ketahanan Tinggi - Dibangun untuk uji siklus tinggi dengan bahan yang kokoh yang tahan ribuan sisipan
• Kompatibilitas luas - Mendukung BGA, QFN, SOP, dan paket IC lainnya
• Teknologi kontak presisi - Sonde pegas resistansi rendah atau pin pogo untuk koneksi listrik yang andal
• Konfigurasi khusus - Perlengkapan uji yang disesuaikan untuk desain IC yang unik dan persyaratan pengujian
• Opsi Termal & Frekuensi Tinggi - Soket khusus untuk pengujian pembakaran, suhu tinggi, dan RF

Untuk opsi lebih lanjut atau permintaan khusus, lihat rincian di bawah ini atau hubungi insinyur kami.

Apakah Anda memvalidasi prototipe, pemrograman IC, atau menjalankan tes produksi bervolume tinggi, soket tes kustom kami memastikan akurasi dan repeatability.soket kami memiliki desain mekanik yang kuat untuk mencegah penyimpangan di bawah tekanan termal sambil mempertahankan ketahanan kontak yang stabil. Kompatibel dengan penanganan otomatis dan penguji, mereka merampingkan proses validasi Anda sambil mengurangi waktu henti.