|
Open Top Programming IC Test Sockets Suhu Tinggi Untuk Pengujian Semikonduktor
| Moq: | 1 |
| Harga: | Get Quote |
Buka Soket Uji IC Atas
,Pemrograman Soket Uji IC
,Soket uji semikonduktor suhu tinggi
Soket Uji Burn-In & Pemrograman Open Top Premium untuk Pengujian Semikonduktor yang Menuntut
Dirancang untuk keandalan di lingkungan bersuhu tinggi (hingga 130°C+), soket uji burn-in kami memastikan kinerja yang konsisten selama siklus pemrograman dan pengujian IC yang diperpanjang. Menampilkan:
- Konfigurasi yang dapat disesuaikan untuk mencocokkan paket IC spesifik Anda (BGA, QFN, CSP, dll.)
- Konstruksi yang kuat untuk penyisipan/penarikan berulang tanpa keausan
- Dioptimalkan untuk integrasi peralatan uji otomatis (ATE)
Ideal untuk produsen semikonduktor, laboratorium pengujian, dan fasilitas R&D yang membutuhkan presisi dan umur panjang.
Di bawah ini adalah spesifikasi penting yang dievaluasi oleh para insinyur saat memilih soket uji untuk keandalan dan throughput maksimum:
Soket Uji IC Open-Top Kustom: Spesifikasi Inti
|
Properti |
Parameter |
Nilai Tipikal |
|
Mekanik |
Siklus Penyisipan |
≥30K–50K siklus |
|
|
Gaya Kontak |
20–30g/pin |
|
|
Suhu Pengoperasian |
Komersial -40 ~ +125 |
|
|
Toleransi |
±0.01mm |
|
Listrik |
Resistansi Kontak |
<50mΩ |
|
|
Impedansi |
50Ω (±5%) |
|
|
Arus |
1.5A~3A |
Mitra Tepercaya Anda untuk Solusi Soket Uji IC Presisi
Di Sireda, kami memberikan solusi soket uji end-to-end—dari model standar volume tinggi hingga konfigurasi yang sepenuhnya dipesan lebih dahulu yang direkayasa untuk persyaratan tepat Anda.
Solusi Standar Siap untuk Penerapan Segera:
✔ Soket BGA Pitch Halus (opsi pitch 0.3mm–1.5mm)
✔ Soket QFN/LGA Profil Rendah dengan aktuasi zero-insertion-force (ZIF)
✔ Soket Kecepatan Tinggi/RF (DC hingga 70GHz dengan kehilangan sinyal minimal)
✔ Soket Misi-Kritis untuk lingkungan burn-in, otomotif, dan MIL-STD
Mari kita rancang antarmuka optimal antara IC dan peralatan uji Anda—hubungi tim kami hari ini untuk peninjauan proyek tanpa kewajiban.
