Moq: | 1 |
Precio: | Get Quote |
Nuestros enchufes de prueba de circuito integrado ATE de alto rendimiento están diseñados específicamente para sistemas de equipos de prueba automatizados (ATE) en las etapas de prueba final (FT), ofreciendo un rendimiento de contacto ultra confiable para la memoria,la lógica, y pruebas de producción de gran volumen.
Para obtener más opciones o solicitudes personalizadas, vea los detalles a continuación o póngase en contacto con nuestros ingenieros.
Propiedad | Parámetro | Valor típico |
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Mecánica | Ciclos de inserción | Ciclos ≥ 30K-50K |
Fuerza de contacto | 20 a 30 g/pin | |
Temperatura de funcionamiento | Comercial -40 ~ +125 Militar -55 ~ +130 |
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Las normas de seguridad | ± 0,01 mm | |
Eléctrico | Resistencia de contacto | Se aplican las siguientes medidas: |
Impedancia | 50Ω (± 5%) | |
En la actualidad | 1.5A ~ 3A |
Ya sea que esté validando prototipos, programando circuitos integrados, o ejecutando pruebas de producción de gran volumen, nuestras tomas de prueba personalizadas aseguran precisión y repetibilidad.Nuestros enchufes cuentan con diseños mecánicos robustos para evitar la deformación bajo tensión térmica mientras se mantiene la resistencia de contacto estableCompatibles con los controladores y probadores automatizados, agilizan su proceso de validación y reducen el tiempo de inactividad.