2025-09-15
Poiché i moduli di memoria sono ampiamente utilizzati in server, data center e sistemi industriali, garantire la loro affidabilità a lungo termine in condizioni di temperatura elevata è fondamentale. I forni a camera completa tradizionali possono essere costosi, ingombranti e inefficienti quando è richiesto solo stress termico localizzato. Per affrontare questa sfida, SIREDA ha sviluppato una camera ad alta temperatura personalizzata (cappuccio termico) progettata specificamente per i test di burn-in localizzati dei moduli di memoria.
Il cliente aveva bisogno di una soluzione che potesse:
Sireda ha progettato e prodotto una camera ad alta temperatura (cappuccio termico)che racchiude direttamente l'area del modulo di memoria, creando un micro-ambiente controllato per i test di burn-in. La camera integra elementi riscaldanti e sensori di precisione per mantenere accurati livelli di temperatura.
Il sistema è completamente integrato con il software per PC host, consentendo agli operatori di programmare profili di temperatura, automatizzare i cicli di test e monitorare i dati dei test in tempo reale. Ciò garantisce sia la coerenza che l'efficienza nel processo di burn-in.
Attraverso lo sviluppo della camera ad alta temperatura, [Nome dell'azienda] ha fornito al cliente uno strumento economico ed efficiente per il burn-in e i test di affidabilità dei moduli di memoria. Questo caso evidenzia la nostra capacità di fornire soluzioni di test personalizzate e specifiche per l'applicazioneche supportano i clienti nel raggiungimento dei loro obiettivi di qualità del prodotto.