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Socket di prova per semiconduttori di dissipazione del calore tipo a capo aperto affidabile
| Moq: | 1 |
| Prezzo: | Get Quote |
Socket di prova per semiconduttori di dissipazione del calore
,Apri la presa di prova del semiconduttore superiore
,Sottili di prova affidabili semiconduttori
- Dissipazione del calore avanzata
Progettato appositamente per un funzionamento stabile fino a 150 ° C+, prevenendo la deriva termica nel dispositivo di alimentazione e sui test automobilistici. - Durata estesa
Ingegnerizzato per oltre 200 ore di convalida continua con degrado a contatto minimo.
- Durata superiore- Costruito per test ad alto ciclo con materiali robusti che resistono a migliaia di inserzioni
- Ampia compatibilità- Supporta i pacchetti BGA, QFN, SOP e altri IC
- Tecnologia di contatto di precisione- Sonde a molla a bassa resistenza o pin pogo per collegamenti elettrici affidabili
- Configurazioni personalizzate- Fissature di prova su misura per progetti unici IC e requisiti di test
- Opzioni termiche e ad alta frequenza-Prese specializzate per test di bruciatura, alte temperatura e RF
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Proprietà |
Parametro |
Valore tipico |
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Meccanico |
Cicli di inserzione |
Cicli ≥30K -50K |
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Forza di contatto |
20–30 g/pin |
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Temperatura operativa |
Commerciale -40 ~ +125 |
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Tolleranza |
± 0,01 mm |
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Elettrico |
Resistenza a contatto |
<50MΩ |
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Impedenza |
50Ω (± 5%) |
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Attuale |
1.5a ~ 3a |
Sia che tu stia convalidando prototipi, programmare ICS o eseguire test di produzione ad alto volume, le nostre prese di prova personalizzate garantiscono accuratezza e ripetibilità. Ingegnerizzati per ambienti impegnativi, le nostre prese dispongono di progetti meccanici solidi per prevenire la deformazione sotto stress termico mantenendo la resistenza di contatto stabile. Compatibili con gestori e tester automatizzati, semplificano il processo di convalida mentre tagliano i tempi di inattività.
