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Soquetes Multi DUT para Teste Simultâneo de CI para Maior Produtividade e Eficiência

Soquetes Multi DUT para Teste Simultâneo de CI para Maior Produtividade e Eficiência

MOQ: 1
Preço: Get Quote
Informações Detalhadas
Lugar de origem
CHINA
Marca
Sireda
Certificação
ISO9001
Número do modelo
Open Top
Tom:
≥0.3mm
Contagem de pinos:
2-2000+
Pacotes compatíveis::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Tipo de soquete:
Open Top
Tipo de condutor:
Pinos de sonda, pino de Pogo, PCR
Características:
Muito personalizável
Destacar:

Soquete Multi DUT

,

Soquetes para Teste Simultâneo de CI

,

Soquete DUT para Maior Produtividade

Descrição do produto
Soquetes de ensaio multi-DUT para ensaio de circuitos integrados paralelos de alto volume
  • Aumentem a capacidade de produção e reduzam os tempos de ciclo com os nossos Sockets de Teste Multi-DUT, projetados para testar simultaneamente múltiplos ICs em ambientes automatizados.e validação da produção, estas tomadas suportam testes paralelos de 4, 8 ou 16+ dispositivos - melhorando drasticamente a eficiência para memória, lógica e chips RF.
Principais vantagens do teste automatizado com vários dispositivos:
  • Ensaios paralelos de alta densidade- Validação de várias matrizes/unidades numa única inserção
  • Compatível com sondas e elastômeros- Suporta sondas verticais, pinos de pogo e interfaces de filme condutor anisotrópico (ACF)
  • Integridade do sinal otimizada- Baixo crosstalk e vias de correspondência de impedância (variação < 0,5Ω)
  • Gestor/provador-pronto- Funciona com os testes Teradyne, Advantest e STS

Seja para flash NAND, MCUs automotivos ou módulos de RF 5G, nossos soquetes Multi-DUT garantem contato repetível e de alta força, reduzindo os custos de teste por unidade.Solicitar uma configuração personalizada --nossos engenheiros podem adaptar layouts para o seu conjunto de dispositivos.

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Soquetes Multi DUT para Teste Simultâneo de CI para Maior Produtividade e Eficiência 2
Características e benefícios principais:
  • Durabilidade superior - Construído para testes de alto ciclo com materiais robustos que suportam milhares de inserções
  • Compatibilidade geral- Suporta BGA, QFN, SOP e outros pacotes de IC
  • Tecnologia de contacto de precisão- sondas de molas de baixa resistência para ligações eléctricas fiáveis
  • Configurações personalizadas- Instalações de ensaio personalizadas para designs de circuitos integrados únicos e requisitos de ensaio
  • Opções térmicas e de alta frequência- Soquetes especializadas para testes de queima, alta temperatura e RF

Para mais opções ou pedidos personalizados, consulte os detalhes abaixo ou entre em contato com nossos engenheiros.

Soquetes Multi DUT para Teste Simultâneo de CI para Maior Produtividade e Eficiência 3
Soquete de ensaio personalizado: especificações básicas
Imóveis Parâmetro Valor típico
Mecânico Ciclos de inserção Ciclos ≥ 30K-50K
Força de contacto 20 a 30 g/pin
Temperatura de funcionamento Comércio -40 ~ +125
Militar -55 ~ +130
Tolerância ± 0,01 mm
Eletrodomésticos Resistência ao contacto < 50 mΩ
Impedância 50Ω (± 5%)
Corrente 1.5A~3A
Soluções de tomadas de teste IC - Teste de precisão para aplicações exigentes

Quer estejam a validar protótipos, a programar ICs, ou a executar testes de produção de grande volume, os nossos soquetes de teste personalizados garantem precisão e repetibilidade.As nossas tomadas possuem robustos desenhos mecânicos para evitar a deformação sob tensão térmica mantendo a resistência de contacto estávelCompatível com manipuladores e testadores automatizados, eles simplificam o seu processo de validação enquanto reduzem o tempo de inatividade.