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Socket Multi DUT per test IC per test per una maggiore produttività e efficienza

Socket Multi DUT per test IC per test per una maggiore produttività e efficienza

Moq: 1
Prezzo: Get Quote
Informazioni Dettagliate
Luogo di origine
Cina
Marca
Sireda
Certificazione
ISO9001
Numero di modello
Open top
Pece:
≥0.3mm
Conteggio dei perni:
2-2000+
Pacchetti compatibili::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Tipo di presa:
Open top
Tipo di conduttore:
Pin della sonda, pin pogo, PCR
Caratteristiche:
Molto personalizzabile
Evidenziare:

Socket Multi DUT

,

Socket per test IC simultanei

,

Socket DUT per una maggiore produttività

Descrizione del prodotto
Sottili di prova multi-DUT per la prova di circuiti integrati paralleli ad alto volume
  • Potenziare il throughput e ridurre i tempi di ciclo con le nostre prese di prova Multi-DUT, progettate per testare contemporaneamente più circuiti integrati in ambienti automatizzati.e convalida della produzione, queste prese supportano test paralleli di 4, 8 o 16+ dispositivi -- migliorando drasticamente l'efficienza per la memoria, la logica e i chip RF.
Principali vantaggi per i test automatizzati su più dispositivi:
  • Test paralleli ad alta densità- convalidare più matrici/unità in un unico inserimento
  • Compattibile con la sonda e l' elastomero- Supporta sonde verticali, pin di pogo e interfacce di film conduttivo anisotropico (ACF)
  • Integrità del segnale ottimizzata- Basso crosstalk e percorsi con impedenza corrispondente (variazione < 0,5Ω)
  • Manipolatore/provatore pronto- Funziona con Teradyne, Advantest e STS

Che si tratti di flash NAND, MCU automobilistici o moduli RF 5G, le nostre prese Multi-DUT garantiscono un contatto ripetibile e ad alta forza riducendo i costi di prova per unità.Richiedi una configurazione personalizzata --i nostri ingegneri possono adattare i layout al tuo array di dispositivi.

Socket Multi DUT per test IC per test per una maggiore produttività e efficienza 0 Socket Multi DUT per test IC per test per una maggiore produttività e efficienza 1
Socket Multi DUT per test IC per test per una maggiore produttività e efficienza 2
Caratteristiche e vantaggi principali:
  • Durabilità superiore- Costruito per test di ciclo elevato con materiali robusti che resistono a migliaia di inserimenti
  • Compatibilità generale- Supporta BGA, QFN, SOP e altri pacchetti IC
  • Tecnologia di contatto di precisione- Sonde a molla a bassa resistenza o per collegamenti elettrici affidabili
  • Configurazioni personalizzate- apparecchiature di prova su misura per i disegni unici dei circuiti integrati e le esigenze di prova
  • Opzioni termiche e ad alta frequenza- prese specializzate per test di combustione, alta temperatura e RF

Per ulteriori opzioni o richieste personalizzate, vedere i dettagli qui sotto o contattare i nostri ingegneri.

Socket Multi DUT per test IC per test per una maggiore produttività e efficienza 3
Socket di prova personalizzato: specifiche di base
Immobili Parametro Valore tipico
Meccanica Cicli di inserimento Cicli ≥ 30K-50K
Forza di contatto 20-30 g/pin
Temperatura di funzionamento Commerciale -40 ~ +125
Militare -55 ~ +130
Tolleranza ± 0,01 mm
Altri dispositivi Resistenza al contatto < 50 mΩ
Impedenza 50Ω (± 5%)
Corrente 1.5A~3A
Soluzioni per le prese di prova IC - Prova di precisione per applicazioni esigenti

Sia che stiate convalidando prototipi, programmando circuiti integrati, o eseguendo test di produzione ad alto volume, le nostre prese di prova personalizzate garantiscono precisione e ripetibilità.Le nostre prese hanno un design meccanico robusto per evitare la deformazione sotto stress termico mantenendo una resistenza al contatto stabileCompatibili con gestori e tester automatizzati, semplificano il processo di convalida riducendo i tempi di inattività.