Révolutionner les tests de puces avec notre nouvelle station de travail de cycle thermique

Équipes de développement de semi-conducteurs, voici votre solution de test de nouvelle génération : la Station de travail de cyclage thermique/température – une alternative compacte et à grande vitesse aux chambres environnementales encombrantes, conçue spécifiquement pour une vérification efficace des puces.

Les chambres thermiques traditionnelles obligent les ingénieurs à tester des circuits imprimés entiers dans des plages de températures industrielles (-55 °C à 150 °C), gaspillant du temps et de l'énergie à refroidir/chauffer des composants non critiques. Notre Station de travail de cyclage thermique ciblée change la donne en appliquant des températures extrêmes uniquement à la puce en test (DUT)—accélérant la R&D tout en réduisant les coûts.

• Contrainte thermique de précision uniquement là où vous en avez besoin
  • Fonctionne de -55 °C à +150 °C mais ne conditionne que le DUT—pas l'ensemble du circuit imprimé.
  • Élimine le cyclage thermique inutile des connecteurs, des composants passifs et des circuits de support.
• Vitesses de montée en température fulgurantes
  • 3 à 5 fois plus rapides que les chambres conventionnelles (le transfert thermique par gaz actif assure une stabilisation rapide).
  • Pas d'accumulation de givre—la technologie à air sec empêche la condensation, permettant des tests continus.
• Gain de place et convivial pour le laboratoire
  • Tient sur un bureau standard—pas besoin de salles dédiées aux chambres.
  • Configuration instantanée pour la qualification au niveau de la puce à la demande.

• Concepteurs de circuits intégrés : Vérifiez la fiabilité sans attendre la stabilisation thermique complète du circuit imprimé.
• Équipes de validation : Effectuez des tests de contrainte en quelques heures, et non en quelques jours.
• Startups et universités : Alternative abordable, de la taille d'un banc d'essai, aux chambres industrielles.

• Plage de températures : -55 °C à +150 °C
• Vitesse de montée en température : ±30 °C/min (réglable)
• Contrôle : Programmable par PC via LabVIEW/API
• Encombrement : 30 cm x 25 cm (s'intègre dans les espaces de laboratoire restreints)

Arrêtez de gaspiller de l'énergie et du temps sur les tests environnementaux complets des cartes. Concentrez-vous sur la puce—pas sur la chambre.