Système de test thermique de paillasse compact -55°C à 150°C pour tests rapides de puces

Notre système de test thermique de benchtop offre des transitions de température rapides de -55 ° C à + 150 ° C, atteignant -40 ° C en seulement 7 minutes - parfait pour les tests de vie accélérés et l'analyse des échecs. La technologie localisée de contrôle de la température minimise l'impact de la masse thermique tout en fournissant un forçage précis au niveau des puces. Cette solution compacte réduit considérablement le temps de développement et les coûts de test par rapport aux systèmes à la chambre complète, ce qui le rend idéal pour les laboratoires d'ingénierie:

• Test de qualification de fiabilité
• Caractérisation des paramètres dépendants de la température
• Analyse du mode de défaillance
• Vérification de l'échantillon de production

Faits saillants techniques:

• Capacité de refroidissement ultra-rapide (7min à -40 ° C)
• Contrôle de température précis à l'échelle des puces
• Empreinte compacte du banctop (sauve l'espace de laboratoire)
• Réduire les coûts d'exploitation que les chambres environnementales
• Intégration simple avec les gestionnaires de tests / sondes

L'image ci-dessous montre l'équipement avec ses principaux composants.