Kompaktowy system testów termicznych na blacie -55°C do 150°C do szybkiego testowania układów scalonych

Nasz system badań termicznych na górze stanowiska zapewnia szybkie przejście temperatury z -55°C do +150°C, osiągając -40°C w zaledwie 7 minut - idealnie nadaje się do przyspieszonych testów żywotności i analizy awarii.Lokalizowana technologia sterowania temperaturą minimalizuje wpływ masy cieplnej zapewniając jednocześnie precyzyjne zmuszanie temperatury na poziomie chipaTo kompaktowe rozwiązanie znacznie skraca czas rozwoju i koszty testowania w porównaniu z systemami pełnej komory, co czyni je idealnym rozwiązaniem dla laboratoriów inżynierskich wykonujących:

• Badania kwalifikacji niezawodności
• Charakterystyka parametrów zależnych od temperatury
• Analiza trybu awarii
• Weryfikacja próbek produkcji

Szczegóły techniczne:

• Zdolność do ultraszybkiego chłodzenia (7min do -40°C)
• Precyzyjna kontrola temperatury w skali chipów
• Kompaktny odcisk powierzchni stanowiska (oszczędza przestrzeń w laboratorium)
• Niższe koszty eksploatacji niż komory ochrony środowiska
• Prosta integracja z urządzeniami do obsługi badań/probami

Na poniższym zdjęciu przedstawiono sprzęt z jego głównymi elementami.