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Hochzyklus Mini B USB Teststecker für zuverlässige industrielle Tests
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Langlebiger USB 2.0-Prüfstecker, vergoldete Kontakte, Testanschluss für 15000+ Einfügungszyklen
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USB-C-Bildschirm-Prüfstecker Brennen in industrieller Qualität bei der Prüfung von Typ-C-Anschlüssen
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Open Top Programming IC Test Sockets hohe Temperatur für Halbleiterprüfung
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Anpassbare IC-Testsockel mit mehreren Stilen für BGA/QFN/SOP-Gehäuse
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Präzisions-IC-Chip-Testsockel Halbleiter Hochgenaue Chip-Testlösungen
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Wärmeableitungs-Halbleiter-Testsockel, zuverlässiger Open-Top-Typ
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Federkontakt- und Pogo-Pin-IC-Testsockel programmierbar für Präzisionsvalidierung
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ISO9001 Kundenspezifische Testsockel, maßgeschneiderte IC-Testlösungen für exakte Anforderungen
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Dauerhafte Steckdose für Alterungstests bei hohen Temperaturen und hoher Feuchtigkeit
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Hochleistungs-ATE-IC-Testsockel Präzisionslösungen für Speichertests
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ATE Engineering Validation IC Test Sockets Accurate For Pre Production Testing
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Hohe Zyklus-ATE-IC-Prüfsockeln Langlebige Leistung für anspruchsvolle Produktionsprüfungen
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Multi-DUT-Sockel für simultane IC-Tests für schnelleren Durchsatz und höhere Effizienz
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4 Drahtpräzisions-Kelvin-Prüfungssteckdose für Niedrigwiderstandstests anpassbar
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Kundenspezifische Pin-Präzisions-ZIF-PGA-Sockel-Zero-Insertion-Force-IC-Testlösung
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