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4 Drahtpräzisions-Kelvin-Prüfungssteckdose für Niedrigwiderstandstests anpassbar

4 Drahtpräzisions-Kelvin-Prüfungssteckdose für Niedrigwiderstandstests anpassbar

MOQ: 1
Preis: Get Quote
Detailinformationen
Herkunftsort
CHINA
Markenname
Sireda
Zertifizierung
ISO9001
Modellnummer
Offene Oberseite
Tonhöhe:
≥0.3mm
Stiftanzahl:
2-2000+
Kompatible Pakete::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Sockelart:
Offene Oberseite
Leitertyp:
Sondenstifte, Pogo Pin, PCR
Merkmale:
Sehr anpassungsfähig
Hervorheben:

Anpassbarer Kelvin-Prüfsocket

,

4 Draht-Kelvin-Prüfsockel

,

Niedrigwiderstands-Kelvin-Prüfsocket

Produktbeschreibung

Kelvin-Vierleiter-Test (4-Leiter-Kelvin-Methode)

Auch bekannt als 4-Terminal (4T)-Test, 4-Leiter-Test, oder 4-Punkt-Sonden-Methode, dies ist eine Impedanzmesstechnik, die separate Paare von stromführenden und spannungsmessenden Elektroden verwendet. Im Vergleich zu herkömmlichen Zwei-Terminal (2T)-Messungen ermöglicht der Kelvin-Test deutlich genauere Messungen durch die Eliminierung von Leitungs- und Kontaktwiderstandsfehlern.

Derzeit wird diese Methode hauptsächlich für Schaltungstests in SOP (Small Outline Package)-Geräten verwendet, um eine hohe Präzision bei Widerstandsmessungen für die Halbleitervalidierung, Qualitätskontrolle und F&E-Anwendungen zu gewährleisten.

4 Drahtpräzisions-Kelvin-Prüfungssteckdose für Niedrigwiderstandstests anpassbar 0 4 Drahtpräzisions-Kelvin-Prüfungssteckdose für Niedrigwiderstandstests anpassbar 1 4 Drahtpräzisions-Kelvin-Prüfungssteckdose für Niedrigwiderstandstests anpassbar 2

Kelvin-Testsockel

 

 

4 Drahtpräzisions-Kelvin-Prüfungssteckdose für Niedrigwiderstandstests anpassbar 3       4 Drahtpräzisions-Kelvin-Prüfungssteckdose für Niedrigwiderstandstests anpassbar 4

 Adaptermodul (unten)                                  Adaptermodul (oben)

 

Warum unsere Kelvin-Testsockel wählen?

1. Unübertroffene Präzision für anspruchsvolle Messungen

Unsere Kelvin-Testsockel nutzen echte 4-Leiter-Technologie (4-Punkt-Sonde), wodurch Leitungsfehler eliminiert werden und hochgenaue Impedanzmessungen ermöglicht werden — entscheidend für SOP, QFN, BGA und fortschrittliche IC-Gehäuse.

2. Entwickelt für Zuverlässigkeit und Wiederholbarkeit

  • Vergoldete Federkontakte sorgen für <10 mΩ Kontaktwiderstand und langlebige Leistung.
  • Selbstreinigende Kontakte reduzieren Wartungsausfallzeiten bei der Produktion in großen Stückzahlen.

3. Anpassbare Lösungen für Ihre Anforderungen

  • Optimiert für Ihren spezifischen Gehäusetyp (SOP-8 bis BGA-256+) und Frequenzbereich (DC bis 6 GHz+).
  • Modulare Designs unterstützen die schnelle Umstellung zwischen verschiedenen DUT-Schnittstellen.

4. Beschleunigen Sie Ihren Test-Workflow

  • Low-Insertion-Force (LIF)-Design verhindert Geräteschäden während der Platzierung.
  • Kompatibel mit automatisierten Handhabungsgeräten für Produktionsumgebungen mit hohem Durchsatz.