Het bedrijf lanceert een geavanceerde HAST-testsocket voor het testen van de betrouwbaarheid van halfgeleiders
2025-09-15
.GTR-CONTAINER-XYZ789 {font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, Sans-Serif; Kleur: #333; Line-Hoogte: 1.6; Vulling: 15px; Box-formaat: border-box; Max-breedte: 100%; Overflow-X: verborgen; } .gtr-Container-xyz789 P {font-size: 14px; marge-bottom: 1em; Tekst-align: links; Kleur: #444; } .gtr-Container-xyz789 Strong {font-weight: bold; Kleur: #222; } .gtr-Container-xyz789 EM {font-style: italic; Kleur: #555; } .gtr-Container-xyz789 .gtr-title {font-size: 18px; Lettertype-gewicht: vetgedrukt; marge-bottom: 1.5EM; Kleur: #0056b3; / * Een sterk blauw voor industrieel gevoel */ Tekstalign: links; } .gtr-Container-Xyz789 .gtr-section-heading {font-size: 16px; Lettertype-gewicht: vetgedrukt; Margin-top: 2EM; marge-bottom: 1em; Kleur: #0056b3; Tekst-align: links; } .GTR-Container-Xyz789 UL {List-stijl: geen! Belangrijk; marge: 0! Belangrijk; Vulling: 0! Belangrijk; marge-bottom: 1em! Belangrijk; } .gtr-Container-Xyz789 ul li {positie: relatief; Padding-links: 25px; marge-bottom: 0,5em; Lettergrootte: 14px; Tekst-align: links; Kleur: #444; } .gtr-Container-xyz789 ul li :: vóór {content: "•"; / * Aangepast opsommingsteken */ positie: absoluut; Links: 0; Top: 0; Kleur: #0056b3; / * Blauwe kogel */ lettergrootte: 1.2EM; Line-height: Erven; } .gtr-Container-xyz789 a {color: #007bff; tekstdecoratie: geen; } .gtr-Container-Xyz789 A: Hover {Text-Decoration: Underline; } @media (min-width: 768px) {.gtr-container-xyz789 {vulling: 25px; Max-breedte: 800px; / * Beperk de breedte voor betere leesbaarheid op grote schermen */ marge: 0 auto; / * Centreren de component */} .gtr-container-xyz789 .gtr-title {font-size: 22px; } .gtr-Container-Xyz789 .gtr-section-heading {font-size: 18px; }}
Startt geavanceerde HAST -test socket voor het testen van halfgeleiderbetrouwbaarheid
Shenzhen, 15 september, [Sireda Technology Co., Ltd.], een toonaangevende aanbieder van Semiconductor Test Solutions, heeft vandaag de lancering aangekondigd van zijn nieuw ontwikkeldeHast (sterk versnelde stresstest) Socket, ontworpen om te voldoen aan de veeleisende vereisten van moderne betrouwbaarheidstests voor geïntegreerde circuits.
De nieuwe HAST -testsap is ontworpen om te presteren onder extreme omgevingscondities van het milieu, waardoor klanten de kwalificatie van apparaten en betrouwbaarheidsverificatie kunnen versnellen. In het bijzonder ondersteunt het testen op130 ° C,,85% relatieve vochtigheid (RH), en onderonder druk gezegde omgevingen (meestal 2,3 atm)voor langdurige duur variërend van96 tot 168 uur.
Met deze mogelijkheid kunnen fabrikanten van halfgeleiders en onderzoeksinstellingen de duurzaamheid van het product evalueren en zorgen voor naleving van de industriële normen voor toepassingen met een hoge betrouwbaarheid, waaronder automotive, ruimtevaart en industriële elektronica.
"Naarmate apparaten in grootte blijven krimpen terwijl ze zich uitbreiden in functionaliteit, is ervoor zorgen dat de betrouwbaarheid op lange termijn kritischer is dan ooit,"zei [Executive Name], [titel] op [bedrijfsnaam]."Onze HAST-testaansluiting levert de stabiliteit, precisie en herhaalbaarheid die nodig is voor rigoureuze stresstests, waardoor klanten tijd-tot-market kunnen verkorten met behoud van productintegriteit."
Belangrijkste voordelen van het Hast -testaansluiting zijn:
Hoge-temperatuur en uithoudingsvermogen met hoge vochtigheid.
Veilige en stabiele contactprestaties onder onder druk staande omstandigheden.
Compatibiliteit met verlengde testduur (96–168 uur).
Schaalbaar ontwerp kan worden aangepast aan verschillende pakkettypen.
Met deze lancering blijft Sireda zijn positie als een innovator in het testen van halfgeleider -oplossingen versterken, wat de toenemende vraag naar betrouwbaarheidsvalidatie in geavanceerde elektronica aanpakt.
Ga naar www.sireda.com voor meer informatie over de HAST -test socket en andere Semiconductor -testoplossingen.
Bekijk meer
Revolutioneer Chip Testing met Onze Nieuwe Temperatuur/Thermische Cyclustest Workstation
2025-09-01
.gtr-container-abc987 {
font-family: Verdana, Helvetica, "Times New Roman", Arial, sans-serif;
color: #333;
line-height: 1.6;
max-width: 800px;
margin: 0 auto;
padding: 20px;
box-sizing: border-box;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-main {
font-size: 18px;
font-weight: bold;
margin-bottom: 1em;
text-align: left;
color: #0056b3;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-section {
font-size: 16px;
font-weight: bold;
margin-top: 1.5em;
margin-bottom: 1em;
text-align: left;
color: #0056b3;
border-bottom: 1px solid #eee;
padding-bottom: 5px;
}
.gtr-container-abc987 p {
font-size: 14px;
margin: 1em 0;
text-align: left;
word-break: normal;
overflow-wrap: normal;
}
.gtr-container-abc987 strong {
font-weight: bold;
}
.gtr-container-abc987 em {
font-style: italic;
}
.gtr-container-abc987 ul {
list-style: none !important;
margin: 1em 0 !important;
padding: 0 !important;
}
.gtr-container-abc987 ul li {
position: relative;
padding-left: 25px;
margin-bottom: 0.5em;
font-size: 14px;
text-align: left;
}
.gtr-container-abc987 ul.gtr-list-checkmark li::before {
content: '✓';
position: absolute;
left: 0;
top: 0;
color: #28a745;
font-weight: bold;
font-size: 16px;
line-height: 1.6;
}
.gtr-container-abc987 ul:not(.gtr-list-checkmark) li::before {
content: '•';
position: absolute;
left: 0;
top: 0;
color: #0056b3;
font-weight: bold;
font-size: 16px;
line-height: 1.6;
}
.gtr-container-abc987 img {
max-width: 100%;
height: auto;
display: block;
margin: 1em auto;
}
@media (min-width: 768px) {
.gtr-container-abc987 {
padding: 30px;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-main {
font-size: 22px;
margin-bottom: 1.5em;
}
.gtr-container-abc987 .gtr-title-section {
font-size: 18px;
margin-top: 2em;
margin-bottom: 1.2em;
}
}
Revolutioneer Chip Testing met Onze Nieuwe Temperatuur/Thermische Cyclustestbank
Ontwikkelingsteams voor halfgeleiders, ontmoet uw volgende generatie testoplossing: de Temperatuur/Thermische Cyclustestbank – een compact, snelle alternatief voor omvangrijke milieukamers, speciaal ontworpen voor efficiënte chipverificatie.
Waarom genoegen nemen met langzame, inefficiënte tests?
Traditionele thermische kamers dwingen ingenieurs om hele printplaten (PCB's) te testen bij industriële temperatuurbereiken (-55°C tot 150°C), wat tijd en energie verspilt aan het koelen/verwarmen van niet-kritieke componenten. Onze Gerichte Thermische Cyclustestbank verandert het spel door extreme temperaturen alleen toe te passen op de chip die getest wordt (DUT)—waardoor R&D wordt versneld en kosten worden bespaard.
Belangrijkste voordelen ten opzichte van standaard kamers
Precisie Thermische Stress Alleen Waar U Het Nodig Heeft
Werkt bij -55°C tot +150°C maar conditioneert alleen de DUT—niet de hele PCB.
Elimineert onnodige thermische cycli van connectoren, passieven en ondersteunende circuits.
Razendsnelle Thermische Rampsnelheden
3–5x sneller dan conventionele kamers (actieve gasthermische overdracht zorgt voor snelle stabilisatie).
Geen ijsvorming—droge-luchttechnologie voorkomt condensatie, waardoor continu testen mogelijk is.
Ruimtebesparend & Lab-vriendelijk
Past op een standaard bureau—geen behoefte aan speciale kamerruimtes.
Directe installatie voor on-demand chip-level kwalificatie.
Wie profiteert?
IC-ontwerpers: Verifieer betrouwbaarheid zonder te wachten op volledige PCB thermische stabilisatie.
Validatieteams: Voer stresstests uit in uren, niet in dagen.
Startups & Academie: Betaalbaar, benchtop-formaat alternatief voor industriële kamers.
Technische Hoogtepunten:
Temperatuurbereik: -55°C tot +150°C
Rampsnelheid: ±30°C/min (instelbaar)
Besturing: PC programmeerbaar via LabVIEW/API
Voetafdruk: 30cm x 25cm (past in krappe labruimtes)
Verkort de Ontwikkeltijd & Kosten Vandaag
Stop met het verspillen van energie en tijd aan full-board milieutests. Focus op de chip—niet de kamer.
Bekijk meer
