producten
PRODUCT DETAILS
Huis > Producten >
4 Draad Precision Kelvin Test Socket Voor Low Resistance Testing Aanpasbaar

4 Draad Precision Kelvin Test Socket Voor Low Resistance Testing Aanpasbaar

Moq: 1
Prijs: Get Quote
Gedetailleerde informatie
Plaats van herkomst
CHINA
Merknaam
Sireda
Certificering
ISO9001
Modelnummer
Open top
Toonhoogte:
≥0.3mm
Telling:
2-2000+
Compatibele pakketten::
BGA, QFN, LGA, SOP, WLCSP
Sockettype:
Open top
Type geleider:
Probe pins, pogo pin, PCR
Functies:
Zeer aanpasbaar
Markeren:

Aanpasbare Kelvin-testsocket

,

4 Draad Kelvin-testsocket

,

Low Resistance Kelvin Test Socket

Productbeschrijving

Kelvin Vierdraads Testen (4-Draads Kelvin Methode)

Ook bekend als4-Terminal (4T) Testen, 4-Draads Testen, of 4-Punten Probe Methode, dit is een impedantiemeettechniek die gebruik maakt van aparte paren van stroomvoerende en spanningsdetecterende elektroden. Vergeleken met traditionele twee-terminal (2T) detectie, Kelvin testen maakt aanzienlijk nauwkeurigere metingen mogelijk door fouten in de weerstand van de bedrading en contacten te elimineren.

Momenteel wordt deze methode voornamelijk gebruikt voor circuit testen in SOP (Small Outline Package) apparaten, waardoor een hoge precisie wordt gegarandeerd in weerstandsmetingen voor semiconductor validatie, kwaliteitscontrole en R&D-toepassingen.

4 Draad Precision Kelvin Test Socket Voor Low Resistance Testing Aanpasbaar 0 4 Draad Precision Kelvin Test Socket Voor Low Resistance Testing Aanpasbaar 1 4 Draad Precision Kelvin Test Socket Voor Low Resistance Testing Aanpasbaar 2

Kelvin Test Socket

 

 

4 Draad Precision Kelvin Test Socket Voor Low Resistance Testing Aanpasbaar 3       4 Draad Precision Kelvin Test Socket Voor Low Resistance Testing Aanpasbaar 4

 Adapter Module (Onderkant)                                  Adapter Module (Bovenkant)

 

Waarom Kiezen voor Onze Kelvin Test Sockets?

1. Ongeëvenaarde Precisie voor Eisende Metingen

Onze Kelvin test sockets maken gebruik van echte 4-draads (4-punts probe) technologie, waardoor fouten in de weerstand van de bedrading worden geëlimineerd voor zeer nauwkeurige impedantiemetingen—cruciaal voor SOP, QFN, BGA en geavanceerde IC-pakketten.

2. Ontworpen voor Betrouwbaarheid & Herhaalbaarheid

  • Verguld-gouden veersondes zorgen voor <10mΩ contactweerstand en langdurige prestaties.
  • Zelfreinigende contacten verminderen onderhouds-uitvaltijd bij testen in grote volumes.

3. Aanpasbare Oplossingen voor Uw Behoeften

  • Geoptimaliseerd voor uw specifieke pakkettype (SOP-8 tot BGA-256+) en frequentiebereik (DC tot 6GHz+).
  • Modulaire ontwerpen ondersteunen snelle conversie tussen verschillende DUT-interfaces.

4. Versnel Uw Test Workflow

  • Low-insertion-force (LIF) ontwerp voorkomt schade aan het apparaat tijdens plaatsing.
  • Compatibel met geautomatiseerde handlers voor productieomgevingen met hoge doorvoer.