Open Top Programmeren IC Testsockets Hoge Temperatuur Voor Halfgeleider Tests

Premium Open Top Burn-In & Programming Test Socket voor veeleisende halfgeleider testen

Ontworpen voor betrouwbaarheid in omgevingen met hoge temperaturen (tot 130°C+), zorgen onze burn-in test sokkels voor een consistente prestatie tijdens langdurige IC-programmerings- en testcycli.

• Aanpasbare configuratie om aan uw specifieke IC-pakket te voldoen (BGA, QFN, CSP, enz.)
• Robuuste constructie voor herhaalde inbreng/uittrekking zonder slijtage
• Geoptimaliseerd voor de integratie van geautomatiseerde testapparatuur (ATE)

Ideaal voor halfgeleiderfabrikanten, testlaboratoria en R&D-faciliteiten die precisie en levensduur vereisen.

Hieronder vindt u deessentiële specificatiesde ingenieurs evalueren bij de selectie van de testuitlaat voor maximale betrouwbaarheid en doorvoer:

Op maat gemaakte open-top IC-testsocket: Kernspecificaties

Uw betrouwbare partner voor precisie-IC-proefsokketoplossingen

Bij Sireda leveren weeind-tot-eind-proefsluitingsoplossingen¥van standaardmodellen met een groot volume tot volledig op maat gemaakte configuraties die zijn ontworpen voor uw exacte behoeften.

Standaardoplossingen klaar voor onmiddellijke inzet:
✔BGA-sluiters met fijn pitch(0,3 mm ∼1,5 mm toonhoogte opties)
✔QFN-/LGA-afnemers met een laag profielmet een vermogen van meer dan 50 W,
✔High-Speed/RF-sockets(DC tot 70 GHz met minimaal signaalverlies)
✔Missiekritische stopcontactenvoor verbrandingsomgevingen, auto- en MIL-STD-omgevingen

Laten we deoptimale interface tussen uw IC en de testapparatuurNeem vandaag nog contact op met ons team voor een vrijblijvende projectbeoordeling.